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B 6210-3

:2010

(1)

目  次

ページ

序文 

1

1

  適用範囲

1

2

  引用規格

2

3

  機械各部及び座標軸の名称 

2

3.1

  一般

2

3.2

  運動の種類 

2

4

  横中ぐりフライス盤による中ぐり加工 

3

4.1

  中ぐり加工 

3

4.2

  フライス削り作業

3

5

  主要な要素の説明

4

5.1

  主軸頭

4

5.2

  テーブル 

4

5.3

  中ぐり棒支え 

4

6

  一般事項

5

6.1

  測定単位 

5

6.2

  JIS B 6190(規格群)及び JIS B 6191 の参照

5

6.3

  検査の順序 

5

6.4

  実施する検査 

5

6.5

  測定器

5

6.6

  工作精度検査 

5

6.7

  ソフトウエア補正

5

6.8

  最小許容値 

5

7

  静的精度検査 

6

7.1

  直進軸の真直度及び角度偏差

6

7.2

  二つの直進軸の直角度 

12

7.3

  テーブル 

14

7.4

  割出しテーブル又は回転テーブル 

17

7.5

  中ぐり主軸 

20

7.6

  フライス主軸 

25

7.7

  ラム

26

7.8

  組込み式面板 

29

7.9

  面削りスライド運動(軸) 

32

7.10

  中ぐり棒支え 

33

8

  工作精度検査 

34

9

  数値制御による位置決め精度検査

39


B 6210-3

:2010  目次

(2)

ページ

10

  工具保持用主軸の回転精度 

45

附属書 JA(参考)JIS と対応国際規格との対比表 

47


B 6210-3

:2010

(3)

まえがき

この規格は,工業標準化法第 12 条第 1 項の規定に基づき,社団法人日本工作機械工業会(JMTBA)及

び財団法人日本規格協会(JSA)から,工業標準原案を具して日本工業規格を制定すべきとの申出があり,

日本工業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が制定した日本工業規格である。

対応国際規格である,ISO 3070 規格群が 2007 年に改正され,従来は Part 0(総則)を含む 4 部構成だっ

たものが,Part 1∼Part 3 の 3 部構成に変更された。これに対応する JIS としては,従来は JIS B 6210JIS 

B 6222

及び JIS B 6252 の 3 規格であったが,この改正を機会に部編成を導入し,JIS B 6210 の第 1 部∼第

3 部として制定することとなった。

これによって,JIS B 6252:2004 は廃止され,この規格に置き換えられた。

この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。

この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権又は出願公開後の実用新案登録出願に

抵触する可能性があることに注意を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は,このような特許

権,出願公開後の特許出願,実用新案権及び出願公開後の実用新案登録出願にかかわる確認について,責

任はもたない。

JIS B 6210

の規格群には,次に示す部編成がある。

JIS

B

6210-1

  第 1 部:テーブル形(コラム固定・テーブル移動形)

JIS

B

6210-2

  第 2 部:床上形(コラム移動・テーブル固定形)

JIS

B

6210-3

  第 3 部:プレーナ形(コラム移動・テーブル移動形)


日本工業規格

JIS

 B

6210-3

:2010

横中ぐりフライス盤−精度検査−

第 3 部:プレーナ形(コラム移動・テーブル移動形)

Test conditions for testing the accuracy of boring and milling

machines with horizontal spindle-

Part 3: Machines with movable column and movable table

序文 

この規格は,2007 年に第 3 版として発行された ISO 3070-3 を基とし,規格使用者の理解を助けるため,

技術的内容を変更して作成した日本工業規格である。

なお,この規格で点線の下線を施してある箇所は,対応国際規格を変更している事項である。変更の一

覧表にその説明を付けて,

附属書 JA に示す。

適用範囲 

この規格は,JIS B 6190-2JIS B 6190-7 及び JIS B 6191 に基づき,普通精度のはん(汎)用プレーナ形

(コラム移動・テーブル移動形)横中ぐりフライス盤の静的精度,工作精度及び数値制御による位置決め

精度の検査方法,並びにそれぞれの検査事項に対応する許容値について規定する。

プレーナ形横中ぐりフライス盤は,中ぐり主軸及びフライス主軸をもつ主軸頭,中ぐり主軸及び面板を

もつ主軸頭,又はラムをもつ主軸頭のいずれかの主軸頭を備えている。

この規格は,コラムベースの運動(W 軸)

,テーブルの運動(X 軸)

,主軸頭の運動(Y 軸)

,中ぐり主

軸又はラムの運動(Z 軸)

,及び該当する場合は,面削りスライドの運動(U 軸)をもつ機械に適用する。

ただし,テーブルには,割出しテーブル又は回転テーブルを含む。

注記  JIS B 6210-1 では,主軸及びラムの運動を W 軸運動という。

この規格は,機械の精度の検査だけを取り扱う。一般に精度検査の前に行われる,機械の運転試験(振

動,異常騒音,運動部品のスティックスリップなど)及び機械特性試験(主軸速度,送り速度など)には

適用しない。

注記  この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を,次に示す。

ISO 3070-3:2007

,Machine tools−Test conditions for testing the accuracy of boring and milling

machines with horizontal spindle−Part 3: Machines with movable column and movable table

(MOD)

なお,対応の程度を表す記号“MOD”は,ISO/IEC Guide 21-1 に基づき,

“修正している”

ことを示す。


2

B 6210-3

:2010

引用規格 

次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成する。これらの

引用規格は,記載の年の版を適用し,その後の改正版(追補を含む。

)は適用しない。

JIS B 6190-2:2008

  工作機械試験方法通則−第 2 部:数値制御による位置決め精度試験

注記  対応国際規格:ISO 230-2:2006,Test code for machine tools−Part 2: Determination of accuracy and

repeatability of positioning numerically controlled axes(IDT)

JIS B 6190-7:2008

  工作機械試験方法通則−第 7 部:回転軸の幾何精度試験

注記  対応国際規格:ISO 230-7:2006,Test code for machine tools−Part 7: Geometric accuracy of axes of

rotation(IDT)

JIS B 6191:1999

  工作機械−静的精度試験方法及び工作精度試験方法通則

注記  対応国際規格:ISO 230-1:1996,Test code for machine tools−Part 1: Geometric accuracy of

machines operating under no-load or finishing conditions(MOD)

ISO 1101:2004

,Geometrical Product Specifications (GPS)−Geometrical tolerancing−Tolerances of form,

orientation, location and run-out

機械各部及び座標軸の名称 

3.1 

一般 

横中ぐりフライス盤は,回転しない工作物に対する切削工具の回転を主切削運動とし,切削工具の回転

によって切削エネルギーを与える工作機械である。

主切削運動は,主軸の回転,場合によっては面板の回転によって発生させる。

3.2 

運動の種類 

送り運動は,次による。

a)

テーブルの X 軸方向送り,及び B 軸方向送り(該当する場合)

b)

主軸頭の Y 軸方向送り

c)

主軸の Z 軸方向送り

d)

主軸の軸線に平行な,コラムベース上のコラムの W 軸方向送り

e)

該当する場合は,面削りスライドのU軸方向送り

表 は,図 に示す機械の主な構成要素の名称を示す。図 は,2 種類のプレーナ形横中ぐりフライス

盤の形態を示す。

図 の a)は,非回転形テーブルを示し,b)は,組込み形回転テーブルを示す。

表 1−名称(図 参照)

番号

名称

対応英語(参考)

1

ベッド bed

2

コラム column

3

主軸頭 spindl head

4

コラムベース column

base

5

テーブル table

6

割出しテーブル又は回転テーブル index

or rotary table


3

B 6210-3

:2010

a) 

非回転形テーブルを備えた機械 

b) 

組込み形回転テーブルを備えた機械 

注記  番号 1∼6 については,表 を参照。

図 1−プレーナ形横中ぐりフライス盤

横中ぐりフライス盤による中ぐり加工 

4.1 

中ぐり加工 

中ぐり加工は,回転しない工作物に対して,単刃切削工具を回転させる運動を主切削運動とし,その切

削工具の回転によって切削エネルギーを与え,様々な大きさ及び形状の穴を加工する方法である。

円筒穴,テーパ穴,止まり穴又は貫通穴を繰り広げて必要寸法に加工する作業は,中ぐり軸の軸平均線

に対する工具刃先位置を明確に位置決めできる中ぐり棒を使って行う。

同一工作物の相対する面にある同軸の穴の加工は,中ぐり棒を使って行う。この中ぐり棒の一方は,中

ぐり主軸にはめ,もう一方は,テーブルの一方の側にある中ぐり棒支えに入れて回転させる。

この方法に代えて,回転テーブルを備えた機械の場合には,中ぐり棒支えを用いないで中ぐり主軸に取

り付けた同一の中ぐり工具を使って,テーブルを 180°回して工作物のもう一方の側を中ぐりすることが

できる(これを,

“反転中ぐり”という。

。後者の加工方法は,経済的ではあるが,軸の回転精度及びテー

ブルの角度位置決めに高い精度が必要になる。

4.2 

フライス削り作業 

フライス削りは,回転しない工作物に対して,多刃切削工具を回転させる運動を主切削運動とし,その

切削工具の回転によって切削エネルギーを与え,様々な形状をした非軸対称面(非回転面)を加工する方

法である。


4

B 6210-3

:2010

フライス削りは,ほとんどが正面フライス削り及びエンドミル削りである。工具は,中ぐり主軸(

図 2

参照)のテーパ穴,又はフライス工具の場合は,フライス主軸端に取り付ける。

主要な要素の説明 

5.1 

主軸頭 

様々な種類の主軸頭の例を

図 に示す。主要な要素の名称は,表 による。

面板は,一般に半径方向の面削りスライドをもっている。面板は,組込形又は着脱形のいずれかである

が,後者の場合は附属品になる。

組込形の面板は,通常,フライス主軸には取り付けることができないこと及び主軸軸受と独立した固有

の軸受を使用していることに注意するのが望ましい。

表 2−名称(図 参照) 

番号

名称

対応英語(参考)

1

中ぐり主軸 boring

spindle

2

フライス主軸 milling

spindle

3

面板 facing head

4

面削りスライド

facing head slide

5

ラム ram

 

a) 

中 ぐ り 及 び フ ラ イ ス
削り主軸頭 

b) 

面 板 及 び 面 削 り ス ラ
イド付き主軸頭 

c) 

ラム形主軸頭 

注記  番号 1∼5 は,表 を参照。

図 2−主軸頭の種類 

5.2 

テーブル 

テーブルは,位置決め及び送りのために様々な直進運動及び回転運動ができる。

互いに直角に運動する二つの主な直進運動には,テーブルの位置決めと工作物の送りとがある。

テーブルの回転運動は,次の位置決め及び送り運動に使用する。

a)

テーブルの回転面内での角度位置決め

b)

フライス削りを行うための工作物の円弧送り

c)

旋削作業を行うための回転切削送り

5.3 

中ぐり棒支え 

長い中ぐり棒を使用した加工例が減少してきていることから,中ぐり棒支えは,オプション又は附属品

として扱うことができる。


5

B 6210-3

:2010

一般事項 

6.1 

測定単位 

この規格では,長さ,長さの偏差及び許容値は,ミリメートル(mm)で表す。角度は,度(°)で表

し,角度の偏差及び許容値は,通常,長さの比(例えば,0.00x/1 000)で表すが,マイクロラジアン(μrad)

又は秒(″)で表してもよい。ただし,これらの間には次の関係がある。

0.010/1 000  =10×10

6

=10 µrad≒2″

6.2 

JIS B 6190

(規格群)及び JIS B 6191 の参照 

この規格を適用するに当たって,

特に検査前の機械の据付け,主軸及びそれ以外の運動部品の暖機運転,

測定方法並びに測定器の精度については,JIS B 6191 を参照。

各検査事項の測定手順欄には,その検査に関係する JIS B 6190-2JIS B 6190-7  又は JIS B 6191  の細分

箇条番号を併せて示す。

6.3 

検査の順序 

この規格に規定した検査の順序は,実際の検査の順序を決めるものではない。測定器の取付け又は検査

が容易になるようにするために,検査は,どのような順序で行ってもよい。

6.4 

実施する検査 

機械を検査するときは,必ずしもこの規格に規定したすべての検査を行う必要はない。使用者は,製造

業者との協定に基づいて検査事項を選択してもよい。検査事項は,機械を発注するときに明確にしなけれ

ばならない。実施する検査事項の指定がなく,また,その検査に要する経費についての協定もない状態で,

この規格を受取検査に引用するだけでは,受渡当事者間の拘束条件にはならない。

6.5 

測定器 

検査事項の測定器欄に示す測定器は,例として示したものである。

同じ物理量が測定でき,少なくとも同じ,又はそれよりも小さな不確かさをもつ他の測定器を使用して

もよい。使用する変位計の目量は,0.001 mm 又はそれ以下とする。

6.6 

工作精度検査 

工作精度検査は,かなりの切削力を発生する荒削りではなく,仕上げ削りで行わなければならない。

6.7 

ソフトウエア補正 

組み込んだソフトウエア機能を使って幾何偏差,位置決め偏差,輪郭偏差及び熱変形の補正ができる場

合は,この検査のときに,これらの機能を使用するかどうかは,受渡当事者間の協定によるのが望ましい。

ソフトウエア補正を用いた場合は,そのことを検査報告書に記載しなければならない。

6.8 

最小許容値 

この規格で規定されている測定長さと異なる長さで許容値を決定する場合には(JIS B 6191 の 2.311 

照)

,許容値の最小値が 0.005 mm であることを考慮する。


6

B 6210-3

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静的精度検査 

7.1 

直進軸の真直度及び角度偏差 

G1

検査事項 

コラムベース運動(W 軸)の真直度

a) YZ

面内(EYW)

b) ZX

面内(EXW)

測定方法図 
 

a)  b) 

許容値 

a)

及び b)

測定長さ 1 000  以下については,    0.02 
測定長さ 1 000  を超える場合は,    0.03 
部分許容値:測定長さ 300 について  0.006

測定値 
a) 

b) 

測定器 

直定規,変位計及びブロックゲージ,又は光学式測定器

測定手順及び JIS B 6191 の参照箇条 

5.232.11

5.232.12 及び 5.232.13 

 
テーブルは,X 軸方向の動きの中央に固定し,主軸頭は,できるだけ動きの中央に固定する。 
直定規の使用面は,テーブル上で,a)垂直及び b)水平にして,コラムベース運動(W 軸)と平行に定置する(平

行とは,動きの両端で直定規に当てた変位計の読みが同じ値になる状態をいう。

主軸を固定できる場合は,変位計は主軸に取り付け,主軸を固定できない場合は,変位計は主軸頭に取り付

ける。

変位計の測定子は,直定規の使用面に直角に当てる。 
コラムベースを W 軸方向に移動させて,読みを取る。


7

B 6210-3

:2010

G2

検査事項 

コラムベース運動(W 軸)の角度偏差

a) YZ

面内(EAW:ピッチ)

b) XY

面内(ECW:ロール)

c) ZX

面内(EBW:ヨー)

測定方法図 
 

1  測定用精密水準器 5

レーザ光源

2  基準用精密水準器 6

干渉計

3  オートコリメータ 7

角度偏差測定用反射鏡

4  反射鏡 8

ビームベンダ

 
許容値

a)

b)及び c)

0.04/1 000 
部分許容値:測定長さ 300 については 0.02/1 000

測定値 
a)

b)

c)

測定器 

a)

精密水準器,レーザ干渉計又は光学式角度偏差測定器

b)

精密水準器

c)

レーザ干渉計又は光学式角度偏差測定器

測定手順及び JIS B 6191 の参照箇条 

5.231.3

及び 5.232.2 

 
測定用精密水準器又は反射鏡は,主軸頭上に定置する。

a)  Z

軸方向(オートコリメータについては,垂直面内の読みを取るように定置する。

b)  X

軸方向

c)  Z

軸方向(オートコリメータについては,水平面内の読みを取るように定置する。

基準用精密水準器は,テーブル上に定置し,主軸頭は,動きの中央に置く。 
コラムベース運動(W 軸)が,主軸頭及びテーブルに角度偏差を生じる原因になる場合は,それぞれの角度偏差

の差も測定し,それを記録する。

測定は,移動に沿って等間隔に少なくとも五つの位置で,運動の両方向において行う。


8

B 6210-3

:2010

G3 

検査事項 

テーブル運動(X 軸)の真直度

a) XY

面内(EYX)

b) ZX

面内(EZX)

測定方法図 
 

 a) 

 b) 

許容値 

a)

及び b)

測定長さ 1 000 以下については,0.02

測定長さ 1 000 を超える場合は,1 000 増すごとに 0.01 を加える。 
最大許容値:0.05 
部分許容値:測定長さ 300 について 0.006

測定値 
a)

b)

測定器 

直定規,変位計及びブロックゲージ,又は光学式測定器

測定手順及び JIS B 6191 の参照箇条 

5.232.11

及び 5.232.13 

コラムベースは,Z 軸方向の動きの中央に固定し,主軸頭は,できるだけ動きの中央に固定する。 
直定規の使用面は,テーブル上中央で,a)垂直及び b)水平にして,テーブル運動(X 軸)と平行に定置する(平

行とは,動きの両端で直定規に当てた変位計の読みが同じ値になる状態をいう。

主軸を固定できる場合は,変位計は主軸に取り付け,主軸を固定できない場合は,変位計は主軸頭に取り付ける。
変位計の測定子は,直定規の使用面に直角に当てる。

テーブルを X 軸方向に移動させて,読みを取る。


9

B 6210-3

:2010

G4 

検査事項 

テーブル運動(X 軸)の角度偏差

a) XY

面内(ECX:ピッチ)

b) YZ

面内(EAX:ロール)

c) ZX

面内(EBX:ヨー)

測定方法図 

1

測定用精密水準器

5

レーザ光源

2

基準用精密水準器

6

干渉計

3

オートコリメータ

7

角度偏差測定用反射鏡

4

反射鏡

8

ビームベンダ

 
許容値 

a)

b)及び c)

X≦4 000

0.04/1 000

X>4 000

0.06/1 000

部分許容値:測定長さ 300 について 0.02/1 000

測定値 
a) 

b)

c)

測定器 

a)

精密水準器,レーザ干渉計又は光学式角度偏差測定器

b)

精密水準器

c)

レーザ干渉計又は光学式角度偏差測定器

測定手順及び JIS B 6191 の参照箇条 

5.231.3

及び 5.232.2 

測定用精密水準器又は反射鏡は,テーブル上に定置する。

a)  X

軸方向(オートコリメータについては,垂直面内の読みを取るように定置する。

b)  Z

軸方向

c)  X

軸方向(オートコリメータについては,水平面内の読みを取るように定置する。

基準用精密水準器は,主軸頭上に定置し,主軸頭は,動きの中央に置く。 
テーブル運動(X 軸)が,主軸頭及びテーブルに角度偏差を生じる原因になる場合は,それぞれの角度偏差も測

定し,記録する。

測定は,移動に沿って等間隔に少なくとも五つの位置で,運動の両方向において行う。


10

B 6210-3

:2010

G5

検査事項 

主軸頭運動(Y 軸)の真直度

a) YZ

面内(EZY)

b) XY

面内(EXY)

測定方法図 

a) 

b) 

1  測微顕微鏡 
2  鋼線

 
許容値 

a)

及び b)

測定長さ 1 000 以下については,0.02   
1 000 を超え,4 000 以下の場合は,1 000 増すごとに 0.01 を加える。 
4 000 を超える場合は,1 000 増すごとに 0.02 を加える。

測定値 
a) 

b)

測定器 

測微顕微鏡及び鋼線,又は光学式測定器

測定手順及び JIS B 6191 の参照箇条 

5.232.12

又は 5.232.13 

 
コラムベース又はテーブルは,動きの中央に固定する。

鋼線は,テーブルとコラムベースの垂直案内面にできるだけ近い機械の固定部分との間に強く張る。 
主軸を固定できる場合は,測微顕微鏡は主軸に取り付け,主軸を固定できない場合は,測微顕微鏡は主軸頭に取

り付ける。


11

B 6210-3

:2010

G6

検査事項 

主軸頭運動(Y 軸)の角度偏差

a) YZ

面内(EAY)

b) ZX

面内(EBY)

測定方法図 

a)

b)

1  測定用精密水準器 
2  基準用精密水準器 
3  円筒スコヤ 
4  精密水準器 
5  特殊ジグ

許容値 

a)

及び b)

Y≦4 000    0.04/1 000 
Y>4 000    0.06/1 000

測定値 
a)

b)

測定器 

a)

精密水準器,レーザ干渉計又は光学式角度偏差測定器

b)

定盤,円筒スコヤ,精密水準器,変位計及び特殊ジグ

測定手順及び JIS B 6191 の参照箇条 

5.231.3

及び 5.232.2 

 
a)

精密水準器は,Z 軸と平行に主軸頭上に定置する。基準用精密水準器は,テーブル上に同じ向きに定置する。
Y 軸運動が,主軸頭及びテーブルに角度偏差を生じさせる原因になる場合は,それぞれの角度偏差も測定し,
記録する。

b)

定盤をテーブルに載せて,その上面が水平になるように調整する。

その定盤上に円筒スコヤを定置し,主軸端に取り付けた特殊ジグ上に固定した変位計の測定子を円筒スコ

ヤに当てる。精密水準器は,定盤上に Z 軸方向と平行に定置する。

主軸頭を移動(Y 軸)させて,各測定位置で読みを取る。 
次に,テーブルを距離 だけ移動させ,変位計の測定子が円筒スコヤに当たるように変位計を取り付け直

す。

テーブル運動のロールによって精密水準器が異なる値を示す場合は,定盤の水準が最初の位置での水準と

同じになるように調整し,最初の測定位置と同じ位置で変位計の読みを取る。

各測定位置における,二つの読みの差を距離 で除した値を求め,その最大差を角度偏差とする。 
測定は,移動に沿って等間隔に少なくとも五つの位置で,運動の両方向において行う。

注記  テーブルの二つの位置の間での水準の差は,測定結果に直接影響を及ぼす。


12

B 6210-3

:2010

7.2 

二つの直進軸の直角度 

G7

検査事項 

テーブル運動(X 軸)とコラムベース運動(W 軸)との直角度

測定方法図 

 
許容値 

測定長さ 1 000 について 0.03

測定値 

測定器 

直定規,直角定規及び変位計

測定手順及び JIS B 6191 の参照箇条 

5.522.4 

主軸頭は,できるだけ動きの中央に固定する。 
直定規の使用面は,テーブル上で,コラムベース運動(W 軸)と平行に定置し,その直定規に直角定規を押し当

てる(平行とは,動きの両端で直定規に当てた変位計の読みが同じ値になる状態をいう。

コラムベースは,できるだけ動きの中央で固定する。 
主軸を固定できる場合は,変位計は主軸に取り付け,主軸を固定できない場合は,変位計は主軸頭に取り付ける。

変位計の測定子は,直角定規の使用面に当てる。 
テーブルを X 方向に移動させて,読みを取る。

注記  この測定は,直定規を用いないで,直角定規の二つの使用面に直接変位計の測定子を当てて実行することが

できる。


13

B 6210-3

:2010

G8

検査事項 
主軸頭運動(Y 軸)と次の運動との直角度

a)

テーブル運動(X 軸)

b)

コラムベース運動(W 軸)

測定方法図 
 

a) 

b) 

許容値 

a)

及び b)

測定長さ 1 000 について 0.03

測定値 
a)

b)

測定器 

円筒スコヤ,定盤,変位計及び調整ブロック

測定手順及び JIS B 6191 の参照箇条 

5.522.4 

定盤をテーブル上に載せて,その上面をテーブル運動(X 軸)及びコラムベース運動(W 軸)と平行に定置する

(平行とは,動きの両端で直定規に当てた変位計の読みが同じ値になる状態をいう。

円筒スコヤをその定盤上に定置する。

テーブル及びコラムベースは,それぞれ動きの中央で固定する。 
主軸を固定できる場合は,変位計は主軸に取り付け,主軸を固定できない場合は,変位計は主軸頭に取り付ける。

a)

変位計の測定子を X 軸方向と平行に円筒スコヤに当て,主軸頭を測定長さだけ Y 軸方向に移動させて,読み

の最大差を求める。

b)

変位計の測定子を Z 軸方向と平行に円筒スコヤに当て,主軸頭を測定長さだけ Y 軸方向に移動させて,読み
の最大差を求める。


14

B 6210-3

:2010

7.3 

テーブル 

G9

検査事項 

テーブル上面の平面度

測定方法図 

許容値 

O−X 又は O−Z  のうち長いほうの辺の長さに対して, 
測定長さ 1 000 以下の場合は,0.03(中高であってはならない。

測定長さ 1 000 を超える場合は,1 000 増すごとに 0.01 を加える。 
最大許容値: 0.06

部分許容値:  測定長さ 300 について  0.015

測定値 
 

測定器 

精密水準器,光学式測定器,又は直定規,変位計及びブロックゲージ

測定手順及び JIS B 6191 の参照箇条 

5.322

5.323 及び 5.324 

 
テーブル及びコラムベースは,動きの中央で固定してよい。


15

B 6210-3

:2010

G10

検査事項 

テーブル上面と次の運動との平行度

a)

コラムベース運動(W 軸)

b)

テーブル運動(X 軸)

測定方法図 

 a) 

b) 

許容値 

a)

及び b)

測定長さ 1 000 以下の場合は,0.04 
測定長さ 1 000 を超える場合は,1 000 増すごとに 0.01 を加える。 
最大許容値:0.06

部分許容値:測定長さ 300 について 0.015

測定値 
a) 

b)

測定器 

直定規,変位計及びブロックゲージ

測定手順及び JIS B 6191 の参照箇条 

5.422.21 
 
主軸を固定できる場合は,変位計は主軸に取り付け,主軸を固定できない場合は,変位計は主軸頭に取り付ける。

変位計の測定子は,主軸中心線とほぼ同軸の垂直面内にくるように取り付ける。 
直定規は,テーブル上面に平行に定置し,測定長さにわたってテーブル又はサドルを移動させ,読みの差を求め

る。

移動量が 1 600 を超える場合には,直定規を順次移動させて測定を行う。

a)

テーブルは,動きの中央に固定して測定を行う。

b)

コラム及び主軸頭は,固定して測定を行う。

直定規を使用しないで,変位計とブロックゲージとを使ってテーブル上面を直接測定してもよい。 
回転テーブルについては,回転テーブルの 0°,90°,180°及び 270°の割出し位置で測定する。


16

B 6210-3

:2010

G11

検査事項 

中央又は基準 T 溝とテーブル運動(X 軸)との平行度

測定方法図 

許容値 

測定長さ 1 000 について 0.03

最大許容値: 0.04

測定値 
 

測定器 

直角定盤及び変位計

測定手順及び JIS B 6191 の参照箇条 

5.422.21 
 
主軸を固定できる場合は,変位計は主軸に取り付け,主軸を固定できない場合は,変位計は主軸頭に取り付ける。
変位計の測定子は,基準 T 溝又はその他の基準面に押し当てた直角定盤の使用面に当ててもよい。


17

B 6210-3

:2010

7.4 

割出しテーブル又は回転テーブル 

G12

検査事項 

回転運動中のテーブル上面の面振れ

測定方法図 

1,2,3,4:測定点 
A,B,C,D:角部

 
許容値 

測定直径 1 000 について 0.02

測定値 

測定器 

変位計及びブロックゲージ

測定手順及び JIS B 6191 の参照箇条 

5.632 
 
ブロックゲージをテーブルの角部 A の近くに置き,位置 1 で変位計を使って測定する。次に,ブロックゲージを

取り除いて,角部 B が測定位置にくるようにテーブルを回転させ,同じブロックゲージを測定子とテーブルとの間
に挿入し,測定を行う。テーブルを回転させて,同様に角部 C 及び D で測定を行う。

次に,順次測定位置 2,3 及び 4 で,又は少なくとも位置 2 で変位計を定置して,同じ測定を繰り返す。 
それぞれの位置において,読みの最大差を記録する。 
これらの差の最大値を面振れの測定値とする。

可能な場合は,測定を行う前にテーブルを固定する。


18

B 6210-3

:2010

G13

検査事項 

テーブル回転中心線に対するテーブル心出し穴の振れ

測定方法図 

許容値 

0.015

測定値 

測定器 

変位計

測定手順及び JIS B 6191 の参照箇条 

5.612.3 

主軸を固定できる場合は,変位計は主軸に取り付け,主軸を固定できない場合は,変位計は主軸頭に取り付ける。
変位計の測定子は,心出し穴中心線と同軸になるようにし,かつ,できるだけテーブル上面に近くで当てる。 
テーブルを回転させ,測定偏差として読みの最大差を記録する。

可能な場合は,テストバーを心出し穴にはめて測定してもよい。


19

B 6210-3

:2010

G14

検査事項 

テーブルの角度割出し位置,0°,90°,180°,270°の精度

a) 90

°ごとに四つの固定位置割出しができる 90°固定割出しテーブル

b)

四つの固定位置よりも多くの割出しができる多点割出しテーブル

c)

任意の角度位置決めができる任意割出し回転テーブル

測定方法図 

 
許容値 

測定長さ 500 について

a) 0.03

b) 0.05

c) 0.075

測定値 
a) 

b) 

c)

測定器 

直角定規及び変位計

測定手順及び JIS B 6191 の参照箇条 

6.41

6.42 及び 6.43 

直角定規は,テーブル上で,その 1 辺を,テーブル運動(X 軸)と平行に定置する。

テーブルを一方の向きに四つの位置(90°,180°,270°,360°)で割り出し,すべての割出し位置でテーブル

運動と対応する直角定規の使用面との平行度を測定する。

次に,テーブルを反対の向きに四つの位置(270°,180°,90°,0°)で割り出し,再びすべての割出し位置で

平行度を測定する。八つの読みの最大差は,許容値を超えてはならない。 
注記  位置決め精度試験 P6 は,NC 回転テーブルの検査条件について規定している。


20

B 6210-3

:2010

7.5 

中ぐり主軸 

G15

検査事項 

中ぐり主軸の振れ及び軸方向の動き

a)

主軸を引っ込めたときのテーパ穴の振れ

1)

テーパの口元で

2)

主軸端から 300 の位置で

b)

中ぐり主軸外面の振れ

1)

主軸を引っ込めた位置で

2)

主軸を 300 繰り出した位置で

c)

主軸を引っ込めたときの周期的な軸方向の動き

測定方法図 
 

 a) 

b) 

c) 

許容値 

D≦125

D>125

a)

及び b)

1) 

0.01 0.015

2) 

0.02 0.03

c) 

 0.01 0.015

ここに,D:中ぐり主軸の直径

測定値 
a) 

1) 

2) 

b) 

1) 

2) 

c)

測定器 

変位計及びテストバー

測定手順及び JIS B 6191 の参照箇条 

a) 5.612.3 

b) 5.612.2 

c) 5.622.1

及び 5.622.2 

力 の大きさ及びその向きは,製造業者が指定する。

予圧をかけた軸受を使用している場合は,力をかける必要はない。

注記  検査事項 R1 は,主軸の回転精度を評価するための検査である。


21

B 6210-3

:2010

G16

検査事項 

中ぐり主軸中心線とコラムベース運動(W 軸)との平行度

a) YZ

面内(EZY)

b) ZX

面内(EBY)

測定方法図 

 
許容値 

a)

及び b)

測定長さ 300 について 0.02

測定値 
a) 

b)

測定器 

変位計及びテストバー

測定手順及び JIS B 6191 の参照箇条 

5.412.1

及び 5.422.3 

 
主軸頭は,できるだけ動きの中央に固定し,主軸は引っ込める。

テーブルは,動きの中央で固定してもよい。 
測定は,主軸端にはめたテストバーを使用して行う。 
測定は,主軸の半径方向の振れの平均位置で行うか,又は主軸を 180°回転させた二つの位置で測定し,平均値

を求めてもよい。

                             


22

B 6210-3

:2010

G17

検査事項 

中ぐり主軸中心線とテーブル運動(X 軸)との直角度

測定方法図 

 
許容値 

0.02/500 
ここに,500 は,変位計を当てた 2 点間の距離

測定値 
 

測定器 

変位計及び直角定盤

測定手順及び JIS B 6191 の参照箇条 

5.512.1

及び 5.512.32 

 
主軸頭(Y 軸)は,できるだけ動きの中央に固定する。

主軸及びラムは,できるだけ引っ込める。 
コラムは,テーブルに最も近い位置で固定する。 
主軸に取り付けた変位計を,テーブル上に定置した直角定盤に当てる。

中ぐり主軸を回転させ,直角定盤の同じ位置に変位計が当たるようにテーブルを移動させる。 
直角度の偏差は,二つの読みの差を,2 点間の距離で除した値とする。


23

B 6210-3

:2010

G18

検査事項 

中ぐり主軸中心線と主軸頭運動(Y 軸)との直角度

測定方法図 

許容値 

0.02/500,α≦90° 
ここに,500 は,変位計を当てた 2 点間の距離

測定値 
 

測定器 

円筒スコヤ,変位計及び調整ブロック

測定手順及び JIS B 6191 の参照箇条 

5.512.1

及び 5.512.32 

 
円筒スコヤの使用面は,テーブル上で,主軸頭運動(Y 軸)と平行に定置する(平行とは,動きの両端で円筒ス

コヤに当てた変位計の読みが同じ値になる状態をいう。

主軸頭は,固定する。 
中ぐり主軸及びラムは,できるだけ引っ込める。 
コラムは,テーブルにできるだけ近い位置で,固定する。

中ぐり主軸に取り付けた変位計の測定子を円筒スコヤに当てて,読みを取り,次に,中ぐり主軸を 180°回し,

再び円筒スコヤに当てて,読みを取る。

直角度の偏差は,二つの読みの差を,2 点間の距離で除した値とする。


24

B 6210-3

:2010

G19

検査事項 

垂直面内における中ぐり主軸運動(Z 軸)とコラムベース運動(W 軸)との平行度

測定方法図 

許容値 

主軸繰出し量が,次の量と等しいとき,

2D:+0.015(上向き) 
4D:±0.02 
6D:−0.06(下向き) 
ここに,D:中ぐり主軸の直径

主軸の繰出し量は,中ぐり主軸直径の 6 倍を限度とし,900 を超えてはならない。
許容値は,中ぐり主軸直径 150 までに適用し,その中ぐり主軸直径が 150 を超え

る場合は,受渡当事者間の協定による。

測定値 
 

測定器 

直定規,変位計及びブロックゲージ

測定手順及び JIS B 6191 の参照箇条 

5.232.1

及び 5.422.22 

 
直定規の使用面は,テーブル上で,コラムベース運動(W 軸)と平行に定置する(平行とは,動きの両端で直定

規に当てた変位計の読みが同じ値になる状態をいう。

主軸の回転は,固定する。

主軸端に取り付けた変位計を直定規の使用面に当てる。 
主軸を必要な長さだけ繰り出し,順次各位置で変位計の読みを取る。


25

B 6210-3

:2010

7.6 

フライス主軸 

G20

検査事項 

フライス主軸端の精度

a)

振れ

b)

軸方向の動き

c)

端面の振れ(軸方向の動きを含む。

測定方法図 

1  特殊ジグ

 
許容値

D≦125  D>125

a) 

0.01 0.015

b) 

0.01 0.015

c) 0.02  0.03  

ここに,D:フライス主軸の直径

測定値 
a) 

b) 

c)

測定器 

変位計及び特殊ジグ

測定手順及び JIS B 6191 の参照箇条 

a)  5.612.2 

b)  5.622.1

及び 5.622.2

力 の大きさ及び加える向きは,製造業者が指定する。 
主軸に予圧をかけた軸受が使用されている場合は,力 をかける必要はない。

c)  5.632

変位計と主軸中心線との間の距離 は,できるだけ大きく取る。

注記  検査事項 R1 は,主軸の回転精度を評価するための検査である。


26

B 6210-3

:2010

7.7 

ラム 

G21

検査事項 

ラム運動(Z 軸)とコラムベース運動(W 軸)との平行度

a) YZ

面内

b) ZX

面内

測定方法図 

 
許容値 

a)

及び b)

測定長さ 500 について 0.03

測定値 
a) 

b) 

測定器 

直定規,変位計及び調整ブロック

測定手順及び JIS B 6191 の参照箇条 

5.422.22 
 
直定規の使用面を,テーブル上で,a)垂直及び b)水平にして,コラムベース運動(W 軸)と平行に定置する(平

行とは,動きの両端で直定規に当てた変位計の読みが同じ値になる状態をいう。

コラムは,動きの中央に固定する。 
主軸頭は固定する。

ラムに取り付けた変位計の測定子を直定規に当てて,読みを取る。


27

B 6210-3

:2010

G22

検査事項 

ラム運動(Z 軸)と主軸頭運動(Y 軸)との直角度

測定方法図 

許容値 

測定長さ 500 について 0.03

測定値 
 

測定器 

直定規,直角定規,変位計及び調整ブロック

測定手順及び JIS B 6191 の参照箇条 

5.522.4 
 
直定規の使用面は,テーブル上で,ラム運動(Z 軸)と平行に定置し,その直定規の上に直角定規を定置する(平

行とは,動きの両端で直定規に当てた変位計の読みが同じ値になる状態をいう。

主軸頭を Y 軸方向に移動させて,読みを取る。


28

B 6210-3

:2010

G23

検査事項 

a)

フライス主軸とラムの前面の工具又は附属品心出し面との同心度

b)

ラムの工具又は附属品の取付け面とフライス主軸の回転中心線との直角度

注記  この検査は,ラムに附属品用の円形取付け面がある場合に適用する。

測定方法図 

a)

b)

許容値 

a) 0.02

b) 0.02/500

ここに,500 は,変位計を当てた 2 点間の距離

測定値 
a) 

b) 

測定器 

変位計及びテストバー

測定手順及び JIS B 6191 の参照箇条 

a)  5.442

同心度の偏差は,読みの最大差の 1/2 である。

b) 5.512.42


29

B 6210-3

:2010

7.8 

組込み式面板 

G24

検査事項 

中ぐり主軸回転中心線と面板中心線との同軸度

a)

主軸ハウジングの口元で

b)

主軸ハウジング面から 300 の距離で

注記  この検査は,面板が中ぐり主軸の軸受と独立した軸受で支持されている場合に適用する。

測定方法図 

 
許容値

D≦125  D>125

a) 0.02 0.03

b) 0.03  0.04  

ここに,D:中ぐり主軸の直径

測定値 
a) 

b) 

測定器 

変位計及びテストバー

測定手順及び JIS B 6191 の参照箇条 

5.442 

面板に取り付けた変位計を口元及び 300 の位置で中ぐり主軸に当てる。

それぞれの測定について,同軸度の偏差は,読みの最大差の 1/2 として求める。


30

B 6210-3

:2010

G25

検査事項 

面板の回転軸とテーブル運動(X 軸)との直角度

注記  この検査は,面板が中ぐり主軸の軸受と独立した軸受で支持されている場合に適用する。

測定方法図 

 
許容値 

0.02/500 
ここに,500 は,変位計を当てた 2 点間の距離

測定値 
 

測定器 

直角定盤及び変位計

測定手順及び JIS B 6191 の参照箇条 

5.512.1

及び 5.512.32 

主軸頭は,できるだけ動きの中央(Z 軸)に固定する。 
中ぐり主軸は,引っ込める。 
コラムは,テーブルにできるだけ近い位置で固定する。

面板上に固定した変位計の測定子を直角定盤に当てて,読みを取り,次に,面板を 180°回し,テーブルを移動

させて直角定盤の同じ位置に測定子を当てて,読みを取る。

直角度の偏差は,二つの読みの差を,2 点間の距離で除した値とする。


31

B 6210-3

:2010

G26

検査事項 

面板の回転軸と主軸頭運動(Y 軸)との直角度

注記  この検査は,面板が中ぐり主軸の軸受と独立した軸受で支持されている場合に適用する。

測定方法図 

 
許容値 

0.02/500 
ここに,500 は,変位計を当てた 2 点間の距離

測定値 

測定器 

定盤,円筒スコヤ,変位計及びブロックゲージ

測定手順及び JIS B 6191 の参照箇条 

5.512.1

及び 5.512.32 

円筒スコヤの使用面は,テーブル上で,主軸頭運動(Y 軸)と平行に定置する(平行とは,動きの両端で円筒ス

コヤに当てた変位計の読みが同じ値になる状態をいう。

主軸頭は,できるだけ固定し,主軸は,引っ込める。 
面板上に固定した変位計の測定子を,円筒スコヤに当てて,読みを取り,次に,面板を 180°回し,再び測定子

を円筒スコヤに当てて,読みを取る。

直角度の偏差は,二つの読みの差を,2 点間の距離で除した値とする。


32

B 6210-3

:2010

7.9 

面削りスライド運動(軸) 

G27

検査事項 

a)

水平面内の面削りスライド運動(U 軸)とテーブル運動(X 軸)との平行度

b)

垂直面内の面削りスライド運動(U 軸)とコラムベース運動(W 軸)との直角度

測定方法図 

a) 

b) 

許容値 

a)

及び b)

測定長さ 300 について 0.025

測定値 
a) 

b) 

測定器 

a)

直定規,変位計及びブロックゲージ

b)

直定規,直角定規,変位計及びブロックゲージ

測定手順及び JIS B 6191 の参照箇条 

a)  5.422.2

及び 5.422.5

直定規の使用面を,テーブル上で,テーブル運動(X 軸)と平行に定置する(平行とは,動きの両端で直

定規に当てた変位計の読みが同じ値になる状態をいう。

面削りスライドに取り付けた変位計の測定子を直定規に当て,面削りスライドを移動させ,読みの差を求

める。

次に面板を 180°回して,同様に測定する。

b)  5.522.2

直定規の使用面は,テーブル上で,コラムベース運動(W 軸)と平行に定置し,その上に直角定規を定置

する。

面削りスライドに取り付けた変位計の測定子を直角定規に当て,面削りスライドを移動させ,読みの差を

求める。

次に面板を 180°回して,同様に測定する。


33

B 6210-3

:2010

7.10 

中ぐり棒支え 

G28

検査事項 
中ぐり棒支え穴と中ぐり主軸中心線との同軸度

a) YZ

面内

b) ZX

面内

注記  この検査は,中ぐり棒支えの運動と主軸頭の運動とが同期できる機械に適用する。

測定方法図 

 
許容値 

a)

測定長さ 1 000 について 0.04

b)

測定長さ 1 000 について 0.03

測定値 
a)

b) 

測定器 

変位計,直定規,及び中ぐり棒又はテストバー

測定手順及び JIS B 6191 の参照箇条 

5.422 

中ぐり主軸を引っ込めたときに,支持間の距離に応じて,中ぐり棒支えを完全に貫通するのに十分な長さの中ぐ

り棒又はテストバーを使用する。

直定規の使用面は,中ぐり穴端に取り付けた変移計を用いてコラムベース運動(W 軸)と平行に定置する(平行

とは,動きの両端で直定規に当てた変位計の読みが同じ値になる状態をいう。

次に,コラムベースは,動きの中央に固定し,中ぐり主軸は引っ込める。 
中ぐり棒又はテストバーに固定した変移計の測定子を,直定規の使用面に当てて,測定を行う。 
測定は,主軸側の端部と中ぐり棒支えの近傍との 2 か所で行う。

主軸を繰り出して,同様の測定を繰り返す。

a)

測定は,主軸頭及び中ぐり棒支えを動きの上端に置いて行い,次に下端に置いて行う。又は,その逆で行っ
てもよい。

b)

主軸頭及び中ぐり棒支えを動きの中央に固定し,テーブル及び可能な場合は回転テーブルをそれぞれ動きの
中央に固定して行う。

大形機械の場合には,1 本のテストバーの代わりに 2 本の短いテストバーを主軸及び中ぐり棒支え穴にそれぞれ

取り付けて測定してもよい。


34

B 6210-3

:2010

工作精度検査 

M1 

検査事項 

一つの工作物について次の加工を行う。

a)

円筒穴 a

1

及び a

2

の中ぐり

b)

円筒外面 b

1

及び b

2

の旋削

c)

面 c の面削り

注記  面削り c は,中ぐり主軸及び組込形若しくは取付け形面板の両方,又は独立形フライス

主軸をもつ機械に適用する。 

工作物の形状,寸法及び取付け(例) 

中ぐり径 は,中ぐり主軸径に等しいか,又はわずかに大きくする。 
旋削径 は,

Dd)/ 2 の値が面削りスライドの最大移動量に等しいか,又はわずかに小さな値とする。

1  試験片 
2  取付具 
3  テーブル

注記  工作物材料:鋳鉄

  図中の番号 1∼6 は,次の検査事項番号を示す。


35

B 6210-3

:2010

M1

(続き)

番号

検査事項

許容値

測定値

測定器

測定手順及び JIS B 6191 の参照箇条

1

円筒穴 a

1

,a

2

及び

円筒外面 b

1

の真

円度*(ISO 1101
の 18.3 参照)

−  主軸の繰出し

による加工

−  コラムベース

運動による加

a

1

及び a

2

d≦125: 0.007 5 
d>125: 0.01 
b

1

D≦300 : 0.01 
300<D≦600:0.015
直径が 300 増すご

とに 0.005 加える。

2

円筒穴 a

1

及び a

2

の 円 筒 度 *( ISO 

1101

の 18.4 参照)

d≦125:0.01 
d>125:0.015

穴 ゲ ー ジ 及

び マ イ ク ロ
メ ー タ 又 は
適 切 な 不 確

か さ の 測 定
器 

3

円筒穴 a

1

と円筒

外面 b

1

との同心

度(ISO 1101 

18.13

参照)

0.025

4

円筒外面 b

1

,b

2

円筒穴 a

1

,a

2

の基

準 軸 と の 同 軸 度
( ISO 1101 

18.13

参照)

コラムベースの W

軸方向運動 300 に
ついて 0.04

テ ス ト バ ー
及び変位計

5

加工面の平面度

( ISO 1101 

18.2

参照)

直径 D=300 につ

いて  0.015

直 定 規 及 び

ブ ロ ッ ク ゲ
ージ

6

加工面 c と円筒穴
a

1

及び a

2

の基準軸

との直角度(ISO 

1101

の 18.10 

照)

直径 300 について
0.025 

テ ス ト バ ー
及 び 変 位 計

又 は 水 準 器
及 び 特 殊 支
持台

3.1

3.224.14.25.35.4425.5

5.512.42

5.611.36.6 及び 6.7 

検査を開始する前に,テーブル上に

取 り 付 け る 取 付 台 下 面 が 平 ら で あ
り,工作物を取り付ける面がそのハ
ウジングの中心線と直角であること

を確かめる。 
 
加工の指示

1)

二つの円筒穴 a

1

及び a

2

の中ぐり

並びに仕上げ削り。

テーブルを固定し,中ぐり主軸

を軸方向に繰り出すことによっ
て加工する。

2)

円筒外面 b

1

の旋削。

面板に短い工具を取り付け,コ

ラムベース(W 軸)の送りによ
って加工する。

3)

コラム又はラムを 300 送って円
筒外面 b

2

を旋削する。工具は,

適切な長さの支持台又は工具ホ

ルダを用いて面板に取り付ける。

4)

面削りスライドの自動送り又は
フライス削りによる面 c の加工。

注*

真円度及び円筒度の公差の定義は,ISO 1101 を参照。規定した許容値は,半径に対する値であって,直
径で表現する場合は 2 倍する。

 


36

B 6210-3

:2010

M2 

検査事項 

フライス削り

a)

テ−ブルの X 軸自動送り運動,主軸頭の Y 軸自動送り運動,及びコラムベースの手動 W 軸送り
運動による帯状面 A,C 及び D のフライス削り。

b)

テ−ブルの X 軸向自動送り運動,主軸頭の手動 Y 軸送り運動によって,少なくとも約 5∼10mm

オーバラップさせて 2 回行う面 B のフライス削り。

工作物の形状,寸法及び取付け(例) 

  L≦1 000 については  lh=150     
  L>1 000 については  lh=200 
  L(工作物の長さ又は二つの工作物の相対する面間の距離)=1/2×(テーブルの X 軸方向移動量)

注記  工作物材料:鋳鉄

  図中の番号 1 及び 2 は,次の検査事項番号を示す。

番号

検査事項

許容値

測定値

測定器

測定手順及び JIS B 6191 の参照箇条

1

各ブロックの面 B の平面

0.02

定盤,変位
計,又は三

次 元 座 標
測定機

2

帯状面 A,C 及び D を含
む面の相互の直角度並び
に面 B に対する直角度

測定長さ 100

について 0.02

直角定規及
びブロック
ゲージ

3

二つのブロックの高さ H 0.03

ハ イ ト ゲ
ージ

3.1

3.224.14.25.3215.325  及び

5.5 

工作物は,検査を開始する前に,面 E

が平らになっていることを確かめる。

工作物は,長さ がテーブル中心の

両端で均等になるようにテーブルの X
軸方向運動と平行に取り付ける。

運転しないすべての運動部品は,切

削中は締め付ける。

切削条件及び工具

a)

主軸端に適当な長さの工具アーバを取り付け,側エンドミルを使用。

b)

同じ工具による平面フライス削り

工具は,工具アーバに付けて研削し,主軸に取り付けたときの許容値は,次による。

1)

直径差(ISO 1101 参照)

≦0.01

2)

振れ

≦0.02

3)

端面の振れ

≦0.03


37

B 6210-3

:2010

M3 

検査事項

テ−ブル上面と平行で,テーブル回転中心と同軸の垂直面内にある一つの軸上に相対して取り付け

た二つの工作物の中ぐりによる仕上げ削り。

a) 90

°ごとに四つの固定位置割出しができる 90°固定割出しテーブル

b)

四つの固定位置よりも多くの割出しができる多点割出しテーブル

c)

任意の角度位置決めができる任意割出し回転テーブル

測定方法図 

1

試験片

2

取付ジグ

3

テーブル

4

定盤

C

M

プラグ

  取付ジグの長さ は,テーブル幅よりわずかに小さいか,又はほぼ等しくする。

  穴径 d

1

及び d

2

は,中ぐり主軸の直径の 1/2 以上とする。

  右下の断面図は,測定のための取付け例を示す。

注記  工作物材料:鋳鉄

 
 
 
 
 
 
 
 
 


38

B 6210-3

:2010

M3

(続き)

検査事項

許容値

測定値

測定器

測定手順及び JIS B 6191 の参照箇条

R

1

,R

2

及び R

3

を通

る垂直面と穴 d

1

び d

2

の中心線との

等距離度(距離 l

1

l

2

測定長さ 
L=1 000 につい

a) 0.06

b) 0.1

c) 0.15

テストバー,
変 位 計 又 は
ブ ロ ッ ク ゲ

ージ,ハイト
ゲージ,三次
元 座 標 測 定

3.1

3.224.14.25.321 及び 5.325 

この検査の実施に当たって,工作物は取付

ジグから外してはならない。工作物を組み付
けた取付ジグは定盤上に置いてもよい。

検査を開始する前に,テーブルに取り付け

る取付ジグの面が平らであり,工作物を支持
するための穴の中心線及び心出し穴 C の中心
線は三つの基準ブロック R

1

,R

2

及び R

3

で決

定される垂直基準面から等距離にあること
を確かめる。

取付ジグをテーブル上に取り付ける前に,

テーブルの回転中心線が正確に中ぐり主軸
中心線を通る垂直面内にあることを確かめ
て,回転テーブルを固定する。

取付ジグの心出し穴 C は,可能な場合はプ

ラグ M を使って,テーブルの回転中心と正確
に一致するようにテーブル上に載せた取付

具を調整する。

中ぐり主軸中心線を通る垂直面内で基準ブ

ロック R

1

及び R

2

を取り付けて,テーブル上

で取付具を回転させる。

テーブル上に取付ジグを固定し,図に示す

ように工作物を組み込む。

最初の工作物を直径 まで中ぐりする。 
次に,テーブルを 180°回転させて,次の

工作物を同様に中ぐりする。


39

B 6210-3

:2010

数値制御による位置決め精度検査 

この検査は,直進及び旋回軸の位置決めを数値制御で行う横中ぐりフライス盤だけに適用する。

この検査を実施するときには,特に環境条件,機械の暖機運転,測定方法,評価方法及び結果の表示方

法は,JIS B 6190-2 を参照する。

P1 

検査事項 

数値制御によるテーブル運動(X 軸)の位置決め精度

測定方法図 

1  レーザ光源 
2  干渉計 
3  反射鏡

測定長さ  L

測定値

許容値

L≦500

500<L

1 000

1 000<L

2 000

軸の両方向位置決めの正確さ*

0.014 0.020  0.022

軸の一方向位置決めの繰返し性*

R↑又は R

0.007 0.009  0.011

軸の両方向位置決めの繰返し性

0.011 0.014  0.017

軸の平均反転値

¯

B 0.005

0.006

0.008

軸の両方向位置決めの系統偏差*

0.008 0.011  0.013

軸の平均両方向位置決め偏差*

0.003 0.005  0.006

注*

機械の受渡検査の基本評価項目

測定器 

レーザ干渉測長器又はリニアスケール

測定手順及び JIS B 6190-2 の参照箇条 

箇条 24.3.2 及び 4.3.3 
 
レーザ干渉測長器の光軸又はリニアスケールは,移動軸と平行に置く。 
一般に位置決めは,早送り速度で行うが,受渡当事者間の協定によって任意の送り速度で行ってもよい。 
測定開始点の位置は,記録する。 


40

B 6210-3

:2010

P2 

検査事項 

数値制御による主軸頭運動(Y 軸)の位置決め精度

測定方法図 

1  レーザ光源 
2  干渉計 
3  反射鏡

測定長さ  L

測定値

許容値

L≦500

500<L

1 000

1 000<L

2 000

軸の両方向位置決めの正確さ*

0.014 0.020  0.022

軸の一方向位置決めの繰返し性*

R↑又は R

0.007 0.009  0.011

軸の両方向位置決めの繰返し性

0.011 0.014  0.017

軸の平均反転値

¯

B 0.005

0.006

0.008

軸の両方向位置決めの系統偏差*

0.008 0.011  0.013

軸の平均両方向位置決め偏差*

0.003 0.005  0.006

注*

機械の受渡検査の基本評価項目

測定器 

レーザ干渉測長器又はリニアスケール

測定手順及び JIS B 6190-2 の参照箇条 

箇条 24.3.2 及び 4.3.3 
 
レーザ干渉測長器の光軸又はリニアスケールは,移動軸と平行に置く。 
一般に位置決めは,早送り速度で行うが,受渡当事者間の協定によって任意の送り速度で行ってもよい。

測定開始点の位置は,記録する。 


41

B 6210-3

:2010

P3 

検査事項 

数値制御によるコラムベース運動(W 軸)の位置決め精度

測定方法図 

1  レーザ光源 
2  干渉計 
3  反射鏡

測定長さ  L

測定値

許容値

L≦500

500<L

1 000

1 000<L

2 000

軸の両方向位置決めの正確さ*

0.014 0.020  0.022

軸の一方向位置決めの繰返し性*

R↑又は R

0.007 0.009  0.011

軸の両方向位置決めの繰返し性

0.011 0.014  0.017

軸の平均反転値

¯

0.005 0.006  0.008

軸の両方向位置決めの系統偏差*

0.008 0.011  0.013

軸の平均両方向位置決め偏差*

0.003 0.005  0.006

注*

機械の受渡検査の基本評価項目

測定器 

レーザ干渉測長器又はリニアスケール

測定手順及び JIS B 6190-2 の参照箇条 

箇条 24.3.2 及び 4.3.3 
 
レーザ干渉測長器の光軸又はリニアスケールは,移動軸と平行に置く。

一般に位置決めは,早送り速度で行うが,受渡当事者間の協定によって任意の送り速度で行ってもよい。 
測定開始点の位置は,記録する。 


42

B 6210-3

:2010

P4 

検査事項 

数値制御による中ぐり主軸又はラム運動(Z 軸)の位置決め精度

測定方法図 

1  レーザ光源 
2  干渉計 
3  反射鏡

測定長さ  L

測定値

許容値

L≦500 500<L≦1 000

軸の両方向位置決めの正確さ*

0.017 0.022

軸の一方向位置決めの繰返し性*

R↑又は R↓ 0.007

0.011

軸の両方向位置決めの繰返し性

0.014 0.017

軸の平均反転値

¯

0.006 0.008

軸の両方向位置決めの系統偏差*

0.010 0.012

軸の平均両方向位置決め偏差*

0.004 0.005

注*

機械の受渡検査の基本評価項目

測定器 

レーザ干渉測長器又はリニアスケール

測定手順及び JIS B 6190-2 の参照箇条 

箇条 24.3.2 及び 4.3.3 
 
レーザ干渉測長器の光軸又はリニアスケールは,移動軸と平行に置く。 
一般に位置決めは,早送り速度で行うが,受渡当事者間の協定によって任意の送り速度で行ってもよい。

測定開始点の位置は,記録する。 


43

B 6210-3

:2010

P5 

検査事項 

数値制御による面削りスライド運動(U 軸)の位置決め精度

測定方法図 

1  レーザ光源 
2  干渉計 
3  反射鏡

測定長さ L

測定値

許容値

L≦500 500<L≦1000

軸の両方向位置決めの正確さ*

A 0.017 0.022

軸の一方向位置決めの繰返し性*

R↑又は R

0.009 0.011

軸の両方向位置決めの繰返し性

R 0.014 0.017

軸の平均反転値

¯

B 0.006 0.008

軸の両方向位置決めの系統偏差*

E 0.010 0.012

軸の平均両方向位置決め偏差*

M 0.004  0.005

注*

機械の受渡検査の基本評価項目

測定器 

レーザ干渉測長器又はリニアスケール

測定手順及び JIS B 6190-2 の参照箇条 

箇条 24.3.2 及び 4.3.3 
 
レーザ干渉測長器の光軸又はリニアスケールは,移動軸と平行に置く。 
一般に位置決めは,早送り速度で行うが,受渡当事者間の協定によって任意の送り速度で行ってもよい。 
測定開始点の位置は,記録する。 


44

B 6210-3

:2010

P6 

検査事項 

数値制御による回転テーブルの角度位置決め精度

a)

固定割出し回転テーブル

b)

任意割出し回転テーブル 

測定方法図 

1  オートコリメータ 
2  多面鏡

360°につき

測定値

許容値(30°又は 45°間隔の位置決め)

a) b) 

軸の両方向位置決めの正確さ*

7″ 11″

軸の一方向位置決めの繰返し性*

R↑又は R

4″

6″

軸の両方向位置決めの繰返し性

6″

8″

軸の平均反転値

¯

B

4″

6″

軸の両方向位置決めの系統偏差*

4″

6″

軸の平均両方向位置決め偏差*

2″

4″

注*

機械の受渡検査の基本評価項目

測定器 

多面鏡及びオートコリメータ,又は割出しテーブル付きレーザ干渉測長器

測定手順及び JIS B 6190-2 の参照箇条 

箇条 24.3.2 及び 4.3.3 
 
オートコリメータは,機械の固定部又は機械から離れた箇所に定置し,多面鏡は,テーブル中心近くに定置

し,最初の測定位置でオートコリメータと心合わせをする。

目標位置は,30°又は 45°間隔とするか,又は JIS B 6190-2 に従って選ぶ。

一般に回転角度位置決めの送り速度は,早送り速度で行うが,受渡当事者間の協定によって,任意の送り速

度で行ってもよい。 


45

B 6210-3

:2010

10 

工具保持用主軸の回転精度 

R1 

検査事項 

工具保持用主軸(C)の半径方向誤差運動(ERC)

この検査は,フライス主軸及び中ぐり主軸について行う。

注記  中ぐり主軸は,適用できる場合には,測定中は引っ込める。

測定方法図 

1  非接触式変位計 1 
2  非接触式変位計 2

 
許容値 

最高速度の百分率で

10 %

50 %

100 %

半径方向誤差運動の値(ERC) 0.010

0.014

0.020

最低速度が,最高速度の 10 %を超える場合には,その代わりに主軸は,最低速

度で回転させる。

測定値 

測定器 

テストバー又は精密球,非接触変位計,及び,場合によっては,回転角度測定装置

測定手順及び JIS B 6190-7 の参照 
 

この検査は,回転感度方向の主軸検査である(JIS B 6190-7 の 5.4 参照)

測定の準備が終わったのち,主軸は,最高速度の 50 %の速度で 10 分間暖機運転するか,又は受渡当事者間の協

定による。

全誤差運動の定義は,JIS B 6190-7 の 3.2.4 による。また,全誤差運動の値は JIS B 6190-7 の F.3.4 による。

半径方向誤差運動の値(ERC)(変位計 1 及び 2 を使用)

半径方向誤差運動の値の測定は,JIS B 6190-7 の 5.4.2 による。半径方向誤差運動は,できるだけ主軸端近くで測

定しなければならない(測定方法図における変位計 1 及び 2)

半径方向誤差運動の値 ERC については,最小二乗円(LSC)中心(JIS B 6190-7 の 3.4.3)と合わせて全誤差運動

極座標表示(JIS B 6190-7 の 3.3.1)したグラフを提供しなければならない。

これらの検査について,次のパラメタを記載しなければならない。 
−  測定した半径方向及び軸方向の位置

−  使用したすべてのジグ,目標物及び取付具 
−  測定装置の配置 
−  測定中に測定装置に接続されている直進テーブル又は回転テーブルの位置

−  感度方向の向き,例えば,軸方向,半径方向,又は必要に応じて,その中間の方向


46

B 6210-3

:2010

R1

(続き)

−  測定結果の表示,例えば,誤差運動の値,極座標表示グラフ,時間表示グラフ,周波数表示グラフ 
−  主軸の回転速度(静的誤差運動については速度はゼロ) 
−  時間(秒)

,又は主軸回転数

−  適切な暖機又は慣らしの手順 
−  測定器の周波数応答(Hz 又は 1 回転当たりの山の数)

,電気フィルタのロールオフ特性,デジタル測定器に

おいては,変位の分解能及びサンプリングレート

−  誤差運動を報告する主軸ハウジングに対する変位計の位置及び向きを含む構造ループ,主軸の軸線及び基準

座標軸が配置されている指定された要素,並びにこれらの要素に接続されている要素

−  測定の日時

−  すべての測定器の形式及び校正状態 
−  室温のような測定に影響を及ぼす他の運転条件 

参考文献  JIS B 6310:2003  産業オートメーションシステム−機械及び装置の制御−座標系及び運動の記

 

注記  対応国際規格:ISO 841:2001, Industrial automation systems and integration−Numerical

control of machines−Coordinate system and motion nomenclature(IDT)

JIS B 6210-1

  横中ぐりフライス盤−精度検査  第 1 部:テーブル形(コラム固定・テーブル移

動形)

注記  対応国際規格:ISO 3070-1,Machine tools−Test conditions for testing the accuracy of

boring and milling machines with horizontal spindle−Part 1: Machines with fixed column and

movable table(MOD)


附属書 JA

(参考)

JIS

と対応国際規格との対比表

JIS B 6210-3:2010

  横中ぐりフライス盤−精度検査−第 3 部:プレーナ形(コラム

移動・テーブル移動形)

ISO 3070-3:2007

  Machine tools−Test conditions for testing the accuracy of boring

and milling machines with horizontal spindle−Part 3: Machines with movable column 
and movable table

(I)JIS の規定 (III)国際規格の規定 (IV)JIS と国際規格との技術的差異の箇条ご

との評価及びその内容

箇条番号

及び題名

内容

(II) 
国際規格
番号

箇条番号

内容

箇条ごと

の評価

技術的差異の内容

(V)JIS と国際規格との技術的差異
の理由及び今後の対策

1 適 用 範

プレーナ形(コラム
移動・テーブル移動

形)横中ぐりフライ
ス盤の静的精度,工
作 精 度 及 び 数 値 制

御 に よ る 位 置 決 め
精度の検査方法,並
び に 許 容 値 に つ い

て規定

 1 JIS とほぼ同じ 

変更

第 3 段落を“この規格は,コラ
ムベースの運動(W 軸)

,テーブ

ルの運動(X 軸)

,主軸頭の運動

(Y 軸)

,中ぐり主軸又はラムの

運動(Z 軸)

,及び該当する場合

は,面削りスライドの運動(U
軸)をもつ機械に適用する。た
だし,テーブルには,割出しテ

ー ブ ル 又 は 回 転 テ ー ブ ル を 含
む。

”とした。

運動の名称と軸名称が適切でない
ため,他の箇条に合わせ修正。

ISO

に改正提案を行う。

表 1 の番号 4 の名称を“コラム
ベース”,対応英語(参考)を
“column base”とした。

ISO 3070-1

にて定義されている

“コラムサドル”と区別するため。

ISO

に改正提案を行う。

3 機 械 各
部 及 び 座
標 軸 の 名

3.2  運動の種類 

 3.2

JIS

とほぼ同じ 

変更

表 1 の番号 6 の名称を“割出し
テーブル又は回転テーブル”

,対

応英語(参考)を“index or rotary 
table”とした。 

ISO

規格の説明が不足しているた

め。

ISO

に改正提案を行う。

5  主 要 な
要 素 の 説

5.1  主軸頭  5.1

JIS

とほぼ同じ 

変更

表 2 の番号 4 の対応英語(参考)

を“facing head slide”とした。

番号 3“facing head”に合わせて修

正。

ISO

に改正提案を行う。

6 一 般 事

6.1  測定単位   6.1 JIS とほぼ同じ

追加

各単位表記に“mm”,

“°”

“μrad”

及び“″”を追加した。

使用者の理解を助けるため。

ISO

に改正提案を行う。

 

47

B 621

0-

3


2

010


(I)JIS の規定 (III)国際規格の規定 (IV)JIS と国際規格との技術的差異の箇条ご

との評価及びその内容

箇 条 番 号

及び題名

内容

(II) 
国際規格
番号

箇条番号

内容

箇 条 ご と

の評価

技術的差異の内容

(V)JIS と国際規格との技術的差異
の理由及び今後の対策

7 静 的 精
度検査

静的精度検査

7  JIS とほぼ同じ

変更

W 軸の運動名称及び軸名称につ
いて,

“コラムベース”とした。

3.2 の修正に合わせるため。 
ISO

に改正提案を行う。

追加

測定手順に“平行”に関する文
章を追加

使用者の理解を助けるため。

ISO

に改正提案を行う。

 7.1

直進軸の真直度

及び角度偏差

 7.1

JIS

とほぼ同じ

削除 G1

測定器“microscope and taut

wire”を削除

測定に使用していないため。

ISO

に改正提案を行う。

追加 G1

測定手順に“X 軸方向の”の

文章を追加

使用者の理解を助けるため。

ISO

に改正提案を行う。

 G3 測定手順 1 行目“コラムベー

スは,Z 軸方向の動きの中央に固
定し,主軸頭は,できるだけ動

きの中央に固定する。

”を追加

使用者の理解を助けるため。

ISO

に改正提案を行う。

 G2 及び G4 測定方法図に c)及び

キーを追加

レーザ測長器を使用した図が抜け
ていたので,使用者の理解を助け

るため追加した。

ISO

に改正提案を行う。

 G6 にキーを追加

使用者の理解を助けるため。

ISO

に改正提案を行う。

 G6 測定器に  “定盤”を追加

測定に必要なため。

ISO

に改正提案を行う。

 7.2

二つの直進軸の

直角度

 7.2

JIS

とほぼ同じ

変更 G8

測定手順の b)“W 軸方向”

を“Z 軸方向”とした。

ISO

規格が間違っているため。

ISO

に改正提案を行う。

 7.3

テーブル   7.3 JIS とほぼ同じ

削除 G9

測定器“other equipment”を

削除した。

該当する測定器がないため。

ISO

に改正提案を行う。

 7.4

割出しテーブル

又は回転テーブル

 7.4

JIS

とほぼ同じ

削除 G13

測定器“test mandrel”を削

除した。

測定器としては必要ないため。

ISO

に改正提案を行う。

 7.5

中ぐり主軸

7.5  JIS とほぼ同じ

追加 G18 測定手順に文章を追加した。 使用者の理解を助けるため及び規

格群に統一性をもたせるため。

ISO

に改正提案を行う。

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010


(I)JIS の規定 (III)国際規格の規定 (IV)JIS と国際規格との技術的差異の箇条ご

との評価及びその内容

箇 条 番 号

及び題名

内容

(II) 
国際規格
番号

箇条番号

内容

箇 条 ご と

の評価

技術的差異の内容

(V)JIS と国際規格との技術的差異
の理由及び今後の対策

7 静 的 精
度検査

7.6  フライス主軸

7.6

JIS

とほぼ同じ

追加 G20

測 定 方 法 図 及 び 測 定 器 に

“特殊ジグ”を追加した。

測定に必要なため。

ISO

に改正提案を行う。

(続き) 7.9

面削りスライド

運動(U 軸)

追加 7.9 として“面削りスライド運動

(U 軸)

”を追加した。

ISO

規格に項目が抜けて い るた

め。ISO に改正提案を行う。

変更 G27 測定手順の b)参照箇条を

“5.522.2”に変更する。

ISO

規格の参照が間違っているた

め。

ISO

に改正提案を行う。

 7.10

中ぐり棒支え

追加 G28

測 定 手 順 の 参 照 箇 条 に

“5.422”を追加した。

ISO

規格にて参照がないため。

ISO

に改正提案を行う。

変更 G28

測定手順の b)“table base”

を“回転テーブル”とした。

ISO

規格が旧規格の用語のままの

ため。ISO に改正提案を行う。

8 工 作 精
度検査

工作精度検査

変更

W 軸の運動名称及び軸名称につ
いて,

“コラムベース”とした。

3.2 の修正に合わせるため。 
ISO

に改正提案を行う。

追加 M1  “工作物の形状,寸法及び

取付け”に文章を追加。

使用者の理解を助けるため。

ISO

に改正提案を行う。

 8

JIS

とほぼ同じ

削除 M1 及び M3 測定方法図及びキー

を削除。

ここでの説明は不要なため。

ISO

規格に改正提案を行う。

追加 M1 の注*に文章を追加した。

使用者の理解を助けるため。

ISO

に改正提案を行う。

 M1,M2 及び M3  測定手順に参

照箇条を追加する。

ISO

規格では参照が不足のため。

ISO

に改正提案を行う。

変更 M3

測定手順の“table base”を

“回転テーブル”とした。

ISO

規格が旧規格の用語のままの

ため。ISO に改正提案を行う。

9 数 値 制
御 に よ る
位 置 決 め

精度検査

数 値 制 御 に よ る 位
置決め精度検査

 9 JIS とほぼ同じ

変更

W 軸の運動名称及び軸名称につ
いて,

“コラムベース”とした。

3.2 の修正に合わせるため。 
ISO

に改正提案を行う。

削除 P1∼P5 測定器“microscope”を

削除。

測定には,使用しないため。

ISO

に改正提案を行う。

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010


JIS

と国際規格との対応の程度の全体評価:ISO 3070-3:2007,MOD

注記 1  箇条ごとの評価欄の用語の意味は,次による。

    −  削除……………… 国際規格の規定項目又は規定内容を削除している。 
    −  追加……………… 国際規格にない規定項目又は規定内容を追加している。 
    −  変更……………… 国際規格の規定内容を変更している。

注記 2  JIS と国際規格との対応の程度の全体評価欄の記号の意味は,次による。

    −  MOD………………国際規格を修正している。

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