>サイトトップへ >このカテゴリの一覧へ

B 0601

:2013 (ISO 4287:1997,Amd.1:2009)

(1)

目  次

ページ

序文  

1

1

  適用範囲  

1

2

  引用規格  

1

3

  用語及び定義  

2

4

  輪郭曲線(断面曲線,粗さ曲線,うねり曲線)パラメータ  

8

4.1

  山及び谷の高さパラメータ  

8

4.2

  高さ方向のパラメータ  

11

4.3

  横方向のパラメータ  

12

4.4

  複合パラメータ  

13

4.5

  輪郭曲線の負荷曲線及び確率密度関数並びにそれらに関連するパラメータ  

13

附属書 A(参考)等価記号  

17

附属書 B(参考)表面の評価の流れ  

18

附属書 C(参考)JIS B 0601:2013 と JIS B 0601:1994 及び JIS B 0660:1998 とのパラメータの記号の相違 

  

19

附属書 D(参考)GPS マトリックス  

21

附属書 E(参考)参考文献  

22

附属書 JA(参考)十点平均粗さ  

23

附属書 JB(参考)2RC フィルタを適用した場合の中心線平均粗さ  

25


B 0601

:2013 (ISO 4287:1997,Amd.1:2009)

(2)

まえがき

この規格は,工業標準化法第 14 条によって準用する第 12 条第 1 項の規定に基づき,一般財団法人日本

規格協会(JSA)から,工業標準原案を具して日本工業規格を改正すべきとの申出があり,日本工業標準

調査会の審議を経て,経済産業大臣が改正した日本工業規格である。

これによって,JIS B 0601:2001 は改正され,この規格に置き換えられた。

この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。

この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意

を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は,このような特許権,出願公開後の特許出願及び実

用新案権に関わる確認について,責任はもたない。


日本工業規格

JIS

 B

0601

:2013

(ISO 4287

:1997,

Amd.1

:2009

)

製品の幾何特性仕様(GPS)−

表面性状:輪郭曲線方式−

用語,定義及び表面性状パラメータ

Geometrical Product Specifications (GPS)-Surface texture:

Profile method-Terms, definitions and surface texture parameters

序文 

この規格は,1997 年に第 1 版として発行された ISO 4287,Amendment 1(2009)

,Technical Corrigendum

1

(1998)及び Technical Corrigendum 2(2005)を基に,技術的内容を変更することなく作成した日本工業

規格である。ただし,追補(Amendment)及び技術的正誤票(Technical Corrigendum)については,編集し,

一体とした。この規格では,パラメータの英数字をコンピュータで表現しやすいように等価記号を用いる

ことを許容している。その詳細は,

附属書 を参照する。また,表面の評価の流れを附属書 に図説した。

この規格で用いた用語及びパラメータの記号は,1994 年に発行された JIS B 0601 及び 1998 年に発行され

た JIS B 0660 のものとは異なっている。その詳細は,

附属書 を参照する。

なお,この規格で点線の下線を施してある参考事項,

附属書 JA 及び附属書 JB は,対応国際規格にはな

い事項である。

この規格は,製品の幾何特性仕様(GPS)の一つで,GPS 基本規格に属し(ISO/TR 14638:1995 参照)

表面性状規格チェーンのリンク番号 2 に関係する。この規格と他の GPS 規格との関連についての詳細は,

附属書 を参照する。

この規格では,我が国で用いてきた十点平均粗さを

附属書 JAJIS B 0601:1994 以前の規格による算術

平均粗さは,

附属書 JB に参考として記述した。

適用範囲 

この規格は,輪郭曲線方式による表面性状(粗さ曲線,うねり曲線及び断面曲線)を表すための用語,

定義及び表面性状パラメータについて規定する。

注記  この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を,次に示す。

ISO 4287:1997

,Geometrical Product Specifications (GPS)−Surface texture: Profile method−Terms,

definitions and surface texture parameters

,Amendment:1:2009,Technical Corrigendum 1:1998

及び Technical Corrigendum 2:2005(IDT)

なお,対応の程度を表す記号“IDT”は,ISO/IEC Guide 21-1 に基づき,

“一致している”こ

とを示す。

引用規格 


2

B 0601

:2013 (ISO 4287:1997,Amd.1:2009)

次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成する。この引用

規格は,その最新版(追補を含む。

)を適用する。

JIS B 0651

  製品の幾何特性仕様(GPS)−表面性状:輪郭曲線方式−触針式表面粗さ測定機の特性

注記  対応国際規格:ISO 3274:1996,Geometrical Product Specifications (GPS)−Surface texture: Profile

method

−Nominal characteristics of contact (stylus) instruments(IDT)

用語及び定義 

3.1

  一般用語 

3.1.1 

輪郭曲線フィルタ(profile filter)

輪郭曲線の波長成分を長波長成分と短波長成分とに分離するフィルタ。

注記  粗さ曲線,うねり曲線及び断面曲線を測定するために,測定機では,3.1.1.13.1.1.3 に示す 3

種類のフィルタを用いる(

図 参照)。これらは全て,JIS B 0632 に規定された振幅伝達特性を

もつが,カットオフ値が異なる。

3.1.1.1 

λ輪郭曲線フィルタ(λs profile filter)

粗さ成分とそれより短い波長成分との境界を定義するフィルタ(

図 参照)。

3.1.1.2 

λ輪郭曲線フィルタ(λc profile filter)

粗さ成分とうねり成分との境界を定義するフィルタ(

図 参照)。

3.1.1.3 

λ輪郭曲線フィルタ(λf profile filter)

うねり成分とそれより長い波長成分との境界を定義するフィルタ(

図 参照)。

注記  カットオフ値

λf の定義域は,ISO 4287:1997 では定義されておらず実在しない。JIS B 0610:2001

においてだけカットオフ値

λf が定義されているが,このカットオフ値λf の定義域は ISO 

4287:1997

とは整合していない。

3.1.2 

座標系(coordinate system)

表面性状パラメータを定義する座標系。

注記  平均線に一致する触針の測定方向を 軸,軸に直角で実表面上の軸を 軸及び外側方向(物

体側から周囲の空間側への方向)を 軸とする右手直交座標系が一般に用いられる。この規格

では,右手直交座標系を用いる。

3.1.3 

実表面(real surface)

周囲の空間から分離する物体の境界表面。

3.1.4 

実表面の断面曲線(surface profile)

実表面を指定された平面によって切断したとき,その切り口に現れる曲線(

図 参照)。

注記  切断する平面は,実表面に垂直で任意の方向とするのが一般的である。


3

B 0601

:2013 (ISO 4287:1997,Amd.1:2009)

3.1.5 

断面曲線(primary profile)

測定断面曲線にカットオフ値

λs の低域フィルタを適用して得られる曲線(JIS B 0651)。

注記 1  断面曲線は,断面曲線パラメータの評価の基礎となるものである。

注記 2  測定断面曲線は,縦軸及び横軸からなる座標系において,基準線を基にして得られたディジ

タル形式の測定曲線である(JIS B 0651 参照)

3.1.6 

粗さ曲線(roughness profile)

カットオフ値

λc の高域フィルタによって,断面曲線から長波長成分を遮断して得た輪郭曲線。この輪郭

曲線は,意図的に修正された曲線である(

図 参照)。

注記 1  粗さ曲線用の帯域通過フィルタは,カットオフ値

λs 及びカットオフ値λc の輪郭曲線フィルタ

によって定義される[JIS B 0632 の 2.6(輪郭曲線の通過帯域)及び 3.2(振幅伝達特性)参

照]

注記 2  粗さ曲線は,粗さパラメータの評価の基礎となるものである。

注記 3

λs 及びλc の標準的な関係は,JIS B 0651 の 4.4(粗さ曲線用カットオフ値λc,触針先端半径
r

tip

及びカットオフ比

λc/λs の関係)による。

1

  粗さ曲線

2

  うねり曲線

図 1−粗さ曲線及びうねり曲線の伝達特性 


4

B 0601

:2013 (ISO 4287:1997,Amd.1:2009)

図 2−実表面の断面曲線 

3.1.7 

うねり曲線(waviness profile)

断面曲線にカットオフ値

λf 及びλc の輪郭曲線フィルタを順次適用することによって得られる輪郭曲線。

λf 輪郭曲線フィルタによって長波長成分を遮断し,λc 輪郭曲線フィルタによって短波長成分を遮断する。
この輪郭曲線は,意図的に修正された曲線である。

注記 1  うねり曲線を分離するための

λf 輪郭曲線フィルタを適用する前に,測定断面曲線から呼び形

状を最小二乗法によって除去しておかなければならない。呼び形状が円の場合には,半径は,

最小二乗法における最適化条件に含め,呼び値に固定しないことが望ましい。うねり曲線を

分離する手順は,理想的なオペレータによる。

オペレータとは,不確かさの概念を導入するために,形体を求めるのに必要な測定原理,

測定方法,測定条件,データ処理など一連のものを順序に従って並べてまとめたものである。

理想的なオペレータとは,測定機器及び量子化されたデータなどに誤差がなく,離散化され

たデータの数も無限に大きいなど,理論的に正確なオペレータをいう。

“半径は,最小二乗法における最適化条件に含め”の意味は,最小二乗法によって,デー

タに最も当てはまる円の半径を求めることである。

注記 2  うねり曲線用の帯域通過フィルタは,カットオフ値

λc 及びλf の輪郭曲線フィルタによって定

義される(JIS B 0632 の 2.6 及び 3.2 参照)

注記 3  うねり曲線は,うねりパラメータの評価の基礎となるものである。

3.1.8 

平均線に関する用語

3.1.8.1 

粗さ曲線を求めるための平均線(mean line for the roughness profile)

高域(ハイパス)用

λc 輪郭曲線フィルタによって遮断される長波長成分を表す曲線(JIS B 0632 の 3.2


5

B 0601

:2013 (ISO 4287:1997,Amd.1:2009)

参照)

3.1.8.2 

うねり曲線を求めるための平均線(mean line for the waviness profile)

低域(ローパス)用

λf 輪郭曲線フィルタによって遮断される長波長成分を表す曲線(JIS B 0632 の 3.2

参照)

3.1.8.3 

断面曲線を求めるための平均線(mean line for the primary profile)

最小二乗法によって断面曲線に当てはめた呼び形状を表す直線。

3.1.9 

基準長さ,lplrlw(sampling length)

輪郭曲線の特性を求めるために用いる輪郭曲線の 軸方向長さ。

注記  粗さ曲線用の基準長さ lr 及びうねり曲線用の基準長さ lw は,それぞれ輪郭曲線フィルタのカ

ットオフ値

λc 及びλf に等しい。断面曲線用の基準長さ lp は,評価長さ ln に等しい。

3.1.10 

評価長さ,ln(evaluation length)

輪郭曲線の 軸方向長さ。

注記 1  評価長さは,一つ以上の基準長さを含む。

注記 2  評価長さの標準値については,JIS B 0633 の 4.4(評価長さの標準値)参照。JIS B 0633 は,

うねりパラメータのための標準的な評価長さは規定していない。

3.2

  パラメータに関する用語 

3.2.1 

断面曲線パラメータ(P-parameter)

断面曲線から求められたパラメータ。

3.2.2 

粗さパラメータ(R-parameter)

粗さ曲線から求められたパラメータ。

3.2.3 

うねりパラメータ(W-parameter)

うねり曲線から求められたパラメータ。

注記  箇条 で定義されるパラメータは,該当する輪郭曲線から求められる。パラメータの記号の最

初の大文字は,輪郭曲線の種類を表す。例えば,Ra は粗さ曲線から求められ,Pt は断面曲線か

ら求められる。

3.2.4 

山(profile peak)

輪郭曲線を 軸(平均線)によって切断したときの隣り合う二つの交点に挟まれた曲線部分のうち,平

均線より上側(物体から空間側への方向)の部分。

3.2.5 

谷(profile valley)

輪郭曲線を 軸(平均線)によって切断したときの隣り合う二つの交点に挟まれた曲線部分のうち,平

均線より下側(周囲の空間から物体側に向かう方向)の部分。


6

B 0601

:2013 (ISO 4287:1997,Amd.1:2009)

3.2.6 

高さ及び/又は横方向長さの最小識別値(height and/or spacing discrimination)

輪郭曲線の山及び谷と判断するための最小高さ及び最小長さ。

注記  一般に,山及び谷と判断する高さは,PzRzWz のパーセント値によって規制し,横方向の最

小長さは,基準長さのパーセント値によって規制する。

3.2.7 

輪郭曲線要素(profile element)

山とそれに隣り合う谷からなる曲線部分(

図 参照)。

注記  基準長さの輪郭曲線の始点又は終点において,正又は負の部分(平均線より上側又は下側にあ

る部分)は,山又は谷とみなす。連続する幾つかの基準長さにわたって輪郭曲線要素の数を求

める場合には,基準長さの始点又は終点における山及び谷は,各基準長さの始点で 1 回だけ考

慮する。

3.2.8 

縦座標値,Z (x)(ordinate value)

任意の位置 における輪郭曲線の高さ。

注記  高さの符号は,軸(平均線)の下側を負とし,上側を正とする。

3.2.9 

局部傾斜,

x

x

Z

d

d

)

(

(local slope)

x

i

の位置における輪郭曲線の傾斜(

図 参照)。

注記 1  パラメータ P

ΔqRΔ及び WΔによって表される局部傾斜の値は,データ間隔Δに大きく

依存する。

注記 2  局部傾斜を求める式は,次による。

{

}

)

(

)

(

9

)

(

45

)

(

45

)

(

9

)

(

60

1

)

(

d

)

(

d

3

2

1

1

2

3

+

+

+

+

+

Δ

=

i

i

i

i

i

i

i

x

Z

x

Z

x

Z

x

Z

x

Z

x

Z

X

x

x

Z

ここに,

x

i

番目の点の 方向の位置

Z (x

i

)

番目の点の高さ

ΔX: 隣接するデータ点の間隔

この式は,JIS B 0651 に規定されているデータのサンプリング間隔に対して適用される。

注記 3  局部傾斜を求める式は,数値微分の 7 点公式によっている。

3.2.10 

輪郭曲線の山高さ,Zp(profile peak height)

軸(平均線)から山頂までの高さ(図 参照)。

3.2.11 

輪郭曲線の谷深さ,Zv(profile valley depth)

軸(平均線)から谷底までの深さ(図 参照)。

3.2.12 

輪郭曲線要素の高さ,Zt(profile element height)

一つの輪郭曲線要素における山高さと谷深さとの和(

図 参照)。


7

B 0601

:2013 (ISO 4287:1997,Amd.1:2009)

3.2.13 

輪郭曲線要素の長さ,Xs(profile element width)

輪郭曲線要素によって切り取られた 軸の線分の長さ(

図 参照)。

3.2.14 

レベル における輪郭曲線の負荷長さ,Ml (c)(material length of profile at the level c

軸(平均線)に平行なレベル(以下,切断レベルという。)の直線によって切断された輪郭曲線要素

の実体側の長さの和(

図 参照)。

図 3−輪郭曲線要素 

図 4−局部傾斜 


8

B 0601

:2013 (ISO 4287:1997,Amd.1:2009)

図 5−輪郭曲線の実体側の長さ 

輪郭曲線(断面曲線,粗さ曲線,うねり曲線)パラメータ 

4.1 

山及び谷の高さパラメータ 

4.1.1 

輪郭曲線の最大山高さ(maximum profile peak height)

基準長さにおける輪郭曲線の山高さ Zp の最大値(

図 参照)。

断面曲線の最大山高さ Pp,粗さ曲線の最大山高さ Rp 及びうねり曲線の最大山高さ Wp がある。

4.1.2 

輪郭曲線の最大谷深さ(maximum profile valley depth)

基準長さにおける輪郭曲線の谷深さ Zv の最大値(

図 参照)。

断面曲線の最大谷深さ Pv,粗さ曲線の最大谷深さ Rv 及びうねり曲線の最大谷深さ Wv がある。

4.1.3 

輪郭曲線の最大高さ(maximum height of profile)

基準長さにおける輪郭曲線の山高さ Zp の最大値と谷深さ Zv の最大値との和(

図 参照)。

断面曲線の最大高さ Pz,最大高さ粗さ Rz 及び最大高さうねり Wz がある。

注記  ISO 4287:1984 では,記号 Rz は“十点平均粗さ”を指示するために使われていた。我が国を含

む幾つかの国では,JIS B 0601:1994 の Rz を測定する表面粗さ測定機が使用されている。JIS B 

0601:2013

と JIS B 0601:1994 による測定値の差が,無視できるほど小さいとは限らないので,

既に発行されている文書情報及び図面を用いる場合には,注意しなければならない(

附属書 JA

参照)


9

B 0601

:2013 (ISO 4287:1997,Amd.1:2009)

図 6−輪郭曲線の最大山高さ(粗さ曲線の例) 

図 7−輪郭曲線の最大谷深さ(粗さ曲線の例) 


10

B 0601

:2013 (ISO 4287:1997,Amd.1:2009)

図 8−輪郭曲線の最大高さ(粗さ曲線の例) 

4.1.4 

輪郭曲線要素の平均高さ(mean height of profile elements)

基準長さにおける輪郭曲線要素の高さ Zt の平均値(

図 参照)。

断面曲線要素の平均高さ Pc,粗さ曲線要素の平均高さ Rc 及びうねり曲線要素の平均高さ Wc がある。

=

=

m

i

i

Zt

m

Wc

Rc

Pc

1

1

,

,

注記 1  パラメータ PcRcWc では,山及び谷と判断する最小高さ及び最小長さの識別が必要で

ある。指示がない限り,標準的な最小高さの識別は,それぞれ PzRzWz の 10 %とし,

最小長さの識別は,基準長さの 1 %とする。この二つの条件は,満たされなければならな

い。

注記 2  は,基準長さ中の輪郭曲線要素の数を示す。

4.1.5 

輪郭曲線の最大断面高さ(total height of profile)

評価長さにおける輪郭曲線の山高さ Zp の最大値と谷深さ Zv の最大値との和。

断面曲線の最大断面高さ Pt,粗さ曲線の最大断面高さ Rt 及びうねり曲線の最大断面高さ Wt がある。

注記 1  PtRtWt は,基準長さではなく評価長さによって定義されるので,全ての輪郭曲線に対し

て次の関係が成り立つ。

Pt  ≧  PzRt  ≧  RzWt  ≧  Wz

注記 2  Pz が Pt に等しい場合には,Pt の使用を推奨する。


11

B 0601

:2013 (ISO 4287:1997,Amd.1:2009)

図 9−輪郭曲線要素の高さ(粗さ曲線の例) 

4.2 

高さ方向のパラメータ 

4.2.1 

輪郭曲線の算術平均高さ(arithmetical mean deviation of the assessed profile)

基準長さにおける Z (x)  の絶対値の平均。

断面曲線の算術平均高さ Pa,算術平均粗さ Ra 及び算術平均うねり Wa がある。

=

l

x

x

Z

l

Wa

Ra

Pa

0

d

)

(

1

,

,

ここに,  は,lplr 又は lw である。

4.2.2 

輪郭曲線の二乗平均平方根高さ(root mean square deviation of the assessed profile)

基準長さにおける Z (x)  の二乗平均平方根。

断面曲線の二乗平均平方根高さ Pq,二乗平均平方根粗さ Rq 及び二乗平均平方根うねり Wq がある。

=

l

x

x

Z

l

Wq

Rq

Pq

0

2

d

)

(

1

,

,

ここに,  は,lplr 又は lw である。

4.2.3 

輪郭曲線のスキューネス(skewness of the assessed profile)

それぞれ,PqRq 又は Wq の三乗によって無次元化した基準長さにおける Z (x)  の三乗平均。

断面曲線のスキューネス Psk

粗さ曲線のスキューネス Rsk 及びうねり曲線のスキューネス Wsk がある。

=

lr

x

x

Z

lr

Rq

Rsk

0

3

3

d

)

(

1

1

注記 1  上記の式は,Rsk の定義である。Psk 及び Wsk も同様に定義される。

注記 2  PskRsk 及び Wsk は,輪郭曲線の確率密度関数(図 13 参照)の非対象性の度合を示す数値


12

B 0601

:2013 (ISO 4287:1997,Amd.1:2009)

[統計用語では,わい(歪)度]である。

注記 3  これらのパラメータは,突出した山又は谷の影響を強く受ける。

4.2.4 

輪郭曲線のクルトシス(kurtosis of the assessed profile)

それぞれ PqRqWq の四乗によって無次元化した基準長さにおける Z (x)  の四乗平均。

断面曲線のクルトシス Pku,粗さ曲線のクルトシス Rku 及びうねり曲線のクルトシス Wku がある。

=

lr

x

x

Z

lr

Rq

Rku

0

4

4

d

)

(

1

1

注記 1  上記の式は Rku の定義である。Pku 及び Wku も同様に定義される。

注記 2  PkuRku 及び Wku は,輪郭曲線の確率密度関数(図 13 参照)のとがり(鋭さ)の度合を示

す数値[統計用語では,せん(尖)度]である。

注記 3  これらのパラメータは,突出した山又は谷の影響を強く受ける。

4.3 

横方向のパラメータ 

4.3.1 

輪郭曲線要素の平均長さ(mean width of the profile elements)

基準長さにおける輪郭曲線要素の長さ Xs の平均(

図 10 参照)。

断面曲線要素の平均長さ PSm,粗さ曲線要素の平均長さ RSm 及びうねり曲線要素の平均長さ WSm があ

る。

=

=

m

i

i

Xs

m

WSm

RSm

PSm

1

1

,

,

注記 1  パラメータ PSmRSm 及び WSm では,山及び谷と判断する最小高さ及び最小長さの識別が

必要である。識別可能な最小高さの標準値は,PzRz 又は Wz の 10 %とする。識別可能な最

小長さの標準値は,基準長さの 1 %とする。この二つの条件を両方満足するように,山及び

谷を決定した上で,輪郭曲線要素の平均長さを求める。

注記 2  は,基準長さ中の輪郭曲線要素の数を示す。

4.3.2 

輪郭曲線要素に基づくピークカウント数(peak count number)

輪郭曲線の長さ に含まれる輪郭曲線要素の平均長さの数

断面曲線要素に基づくピークカウント数 PPc,粗さ曲線要素に基づくピークカウント数 RPc 及びうねり

曲線要素に基づくピークカウント数 WPc がある。

RSm

L

RPc

=

注記 1  上記の式は,RPc の定義である。PPc 及び WPc も同様に定義される。

注記 2  特別に指示がない限り,長さ は 10 mm とする。


13

B 0601

:2013 (ISO 4287:1997,Amd.1:2009)

図 10−輪郭曲線要素の長さ 

4.4 

複合パラメータ 

4.4.1 

輪郭曲線の二乗平均平方根傾斜(root mean square slope of the assessed profile)

基準長さにおける局部傾斜

x

x

Z

d

)

(

d

の二乗平均平方根。

断面曲線の二乗平均平方根傾斜 P

Δq,粗さ曲線の二乗平均平方根傾斜 RΔ及びうねり曲線の二乗平均平

方根傾斜 W

Δがある。

4.5 

輪郭曲線の負荷曲線及び確率密度関数並びにそれらに関連するパラメータ 

注記  負荷曲線及び確率密度関数とそれに関するパラメータは,安定した結果を得るために,基準長

さではなく評価長さによって定義する。

4.5.1 

輪郭曲線の負荷長さ率(material ratio of the profile)

評価長さに対する切断レベル における輪郭曲線要素の負荷長さ Ml (c)  の比。

断面曲線の負荷長さ率 Pmr (c),粗さ曲線の負荷長さ率 Rmr (c)  及びうねり曲線の負荷長さ率 Wmr (c)  が

ある。

ln

c

Ml

c

Wmr

c

Rmr

c

Pmr

)

(

)

(

),

(

),

(

=

4.5.2 

輪郭曲線の負荷曲線(アボットの負荷曲線)[

material ratio curve of the profile (Abott Firestone curve)

切断レベル

c

の関数として表された輪郭曲線の負荷長さ率の曲線(

図 11 参照)。

断面曲線の負荷曲線,粗さ曲線の負荷曲線及びうねり曲線の負荷曲線がある。


14

B 0601

:2013 (ISO 4287:1997,Amd.1:2009)

注記

この曲線は,評価長さにおける高さ

Z (x)

の確率と解釈することができる。

4.5.3 

輪郭曲線の切断レベル差(

profile section height difference

与えられた二つの負荷長さ率に一致する高さ方向の切断レベルの差。

断面曲線の切断レベル差

P

δc

粗さ曲線の切断レベル差

R

δc

及びうねり曲線の切断レベル差

W

δc

がある。

2

1

);

2

(

)

1

(

Rmr

Rmr

Rmr

c

Rmr

c

c

R

<

=

δ

注記 1

上記の式は

R

δc

の定義である。

P

δc

及び

W

δc

も同様に定義される。

注記 2

高さの方向を正とすれば,切断レベル

c

基準(原点)を任意に設定しても,

図 11 及び図 12

の関係が得られる。ただし,

Rmr  (c)

100 %

での

c

0

とは限らないので,原点の位置を,

Rmr  (c)

のパーセント表示などで明記することが望ましい。

図 の例は,最高の山頂の位置

を基準としている。

注記 3

対応国際規格では,

C (Rmr1)

C (Rmr2)

となっているが,4.5.1 に整合させて,

C

を小文字で

表した。

図 11−輪郭曲線の負荷曲線(粗さ曲線の例) 


15

B 0601

:2013 (ISO 4287:1997,Amd.1:2009)

図 12−輪郭曲線における異なった切断レベル(粗さ曲線の例) 

4.5.4 

相対負荷長さ率(

relative material ratio

基準とする切断レベル

c

0

と輪郭曲線の切断レベル差

R

δc

とによって決まる負荷長さ率(

図 12 参照)。

断面曲線の相対負荷長さ率

Pmr

,粗さ曲線の相対負荷長さ率

Rmr

及びうねり曲線の相対負荷長さ率

Wmr

がある。

)

(

),

(

),

(

,

,

1

1

1

c

Wmr

c

Rmr

c

Pmr

Wmr

Rmr

Pmr

=

ここに,

  c

1

c

0

R

δc

(又は

P

δc

,又は

W

δc

c

0

c (Rmr0)

[又は

c (Pmr0)

,若しくは

c (Wmr0)

4.5.5 

輪郭曲線の確率密度関数(

profile height amplitude curve

評価長さにわたって得られる高さ

Z (x)

の確率密度関数(

図 13 参照)。

断面曲線の確率密度関数,粗さ曲線の確率密度関数及びうねり曲線の確率密度関数がある。

注記

輪郭曲線の高さ方向パラメータについては,4.2 を参照する。


16

B 0601

:2013 (ISO 4287:1997,Amd.1:2009)

図 13−輪郭曲線の確率密度関数 


17

B 0601

:2013 (ISO 4287:1997,Amd.1:2009)

附属書 A

(参考) 
等価記号

コンピュータにおいてパラメータを表現するために,次の等価記号を使用することが望ましい。

注記  対応国際規格では,この附属書を規定としているが,内容からみて参考とした。

パラメータ

等価記号

P

Δ

Pdq

R

Δ

Rdq

W

Δ

Wdq

Pδc 

Pdc

Rδc 

Rdc

Wδc 

Wdc

λs Ls

λc Lc

λf Lf


18

B 0601

:2013 (ISO 4287:1997,Amd.1:2009)

附属書 B

(参考)

表面の評価の流れ

図 B.1−表面の評価の流れ図 


19

B 0601

:2013 (ISO 4287:1997,Amd.1:2009)

附属書 C

(参考)

JIS B 0601:2013

と JIS B 0601:1994 及び

JIS B 0660:1998

とのパラメータの記号の相違

表 C.1−基本用語 

JIS B 0601:2013

の箇条

JIS B 0601:2013

の基本用語

JIS B 0601:1994

及び

JIS B 0660:1998

の記号

JIS B 0601:2013

の記号

3.1.9 

基準長さ

l lplrlw

a)

3.1.10 

評価長さ

l

n

ln 

3.2.8 

縦座標値

y Z (x)

3.2.9 

局部傾斜

x

x

Z

d

)

(

d

3.2.10 

輪郭曲線の山高さ

y

p

Zp 

3.2.11 

輪郭曲線の谷深さ

y

v

Zv 

3.2.12 

輪郭曲線要素の高さ

Zt 

3.2.13 

輪郭曲線要素の長さ

Xs 

3.2.14 

レベル における輪郭曲線
の負荷長さ

η

p

Ml (c)

a)

異なった三つの輪郭曲線の基準長さは,次の名称とする。

lp(断面曲線),lr(粗さ曲線),lw(うねり曲線)


20

B 0601

:2013 (ISO 4287:1997,Amd.1:2009)

表 C.2−表面性状パラメータ(粗さパラメータの例) 

JIS B 0601:2013

の箇条

JIS B 0601:2013

のパラメータ

JIS B 0601:1994

及び

JIS B 0660:1998

の記号

JIS B 0601:2013

の記号

輪郭曲線の長さ

評価長さ

ln 

基準長さ

a)

4.1.1 

粗さ曲線の最大山高さ

R

p

Rp

b)

4.1.2 

粗さ曲線の最大谷深さ

R

m

Rv

b)

4.1.3 

最大高さ粗さ

R

y

Rz

b)

4.1.4 

粗さ曲線要素の平均高さ

R

c

Rc

b)

4.1.5 

粗さ曲線の最大断面高さ

Rt

b)

4.2.1 

算術平均粗さ

R

a

Ra

b)

4.2.2 

二乗平均平方根粗さ

R

q

Rq

b)

4.2.3 

粗さ曲線のスキューネス

S

k

Rsk

b)

4.2.4 

粗さ曲線のクルトシス

Rku

b)

4.3.1 

粗さ曲線要素の平均長さ

S

m

RSm

b)

4.3.2 

粗さ曲線要素に基づくピー
クカウント数

RPc

b)

d)

d)

4.4.1 

粗さ曲線の二乗平均平方根

傾斜

Δ

q

R

Δq

b)

4.5.1 

粗さ曲線の負荷長さ率

t

p

Rmr(c)

b)

4.5.3 

粗さ曲線の切断レベル差

Rδc

b)

4.5.4 

粗さ曲線の相対負荷長さ率

Rmr

b)

附属書 JA 

十点平均粗さ 
ISO 4287:1997 から削除)

R

z

Rz

JIS

c)

注記  対応する国際規格では,1984 年版の相対負荷長さ率を t

p

としているが,t

p

は負荷長さ率である。ここでは,

誤りを訂正した。

a)

粗さ,うねり及び断面曲線パラメータに対する基準長さは,それぞれ lrlw 及び lp である。lp は ln に等しい。

b)

パラメータは,断面曲線,うねり曲線及び粗さ曲線の 3 種類の輪郭曲線に対して定義される。この表には,
粗さパラメータだけを示してある。一例として,3 種類のパラメータは,Pa(断面曲線パラメータ)

Wa(う

ねりパラメータ)及び Ra(粗さパラメータ)のように表示する。

c)

十点平均粗さは,JIS だけの粗さパラメータであり,断面曲線及びうねり曲線には適用しない。

d)

長さは であり、特別に指示がない限り は 10 mm とする。


21

B 0601

:2013 (ISO 4287:1997,Amd.1:2009)

附属書 D

(参考)

GPS

マトリックス

GPS

マトリックスの詳細は,ISO/TR 14638

:1995

を参照する。

D.1

  規格及びその利用についての情報 

この規格は,うねり曲線,断面曲線及びそれらのパラメータを矛盾なく定義するなど,JIS B 0632ISO 

11562

)及び JIS B 0651ISO 3274)と並行して大幅な書き直しと構成の変更を行った。

D.2

  GPS マトリックスにおける位置付け 

この規格は,

図 D.1 に示す粗さ曲線,うねり曲線及び断面曲線に関する規格チェーンのリンク番号

2

関わる基本規格である。

D.3

  関連国際規格 

関連国際規格は,

図 D.1 に示す規格チェーンに含まれる規格である。

GPS

原理 
規格

 GPS

共通規格

GPS

基本規格マトリックス

リンク番号

1

2

3

4

5

6

サイズ

距離

半径

角度

データムに無関係な線の形状

データムに関係する線の形状

データムに無関係な面の形状

データムに関係する面の形状

姿勢

位置

円周振れ

全振れ

データム

粗さ曲線

うねり曲線

断面曲線

表面欠陥

エッジ

図 D.1GPS マトリックスにおける位置付け 


22

B 0601

:2013 (ISO 4287:1997,Amd.1:2009)

附属書 E

(参考) 
参考文献

1)

ISO/TR 14638

:1995

Geometrical product specification (GPS)

Masterplan

2)  VIM-International vocabulary and general terms in metrology, BIPM, IEC, IFCC, ISO, IUPAC, IUPAP, OIML,

2nd edition, 1993

3)

JIS B 0610

  製品の幾何特性仕様(

GPS

)−表面性状:輪郭曲線方式−転がり円うねりの定義及び表示

4)

JIS B 0632

  製品の幾何特性仕様(

GPS

)−表面性状:輪郭曲線方式−位相補償フィルタの特性

注記

対応国際規格:ISO 11562

:1996

Geometrical Product Specifications (GPS)

Surface texture: Profile

method

Metrological characteristics of phase correct filters

IDT

5)

  JIS B 0633

  製品の幾何特性仕様(

GPS

)−表面性状:輪郭曲線方式−表面性状評価の方式及び手順

注記

対応国際規格:ISO 4288

:1996

Geometrical Product Specifications (GPS)

Surface texture: Profile

method

Rules and procedures for the assessment of surface texture

IDT


23

B 0601

:2013 (ISO 4287:1997,Amd.1:2009)

附属書 JA

(参考)

十点平均粗さ

十点平均粗さは,対応国際規格(ISO 4287

:1997

)から削除された粗さパラメータであるが,我が国にお

いては広く普及しているパラメータであるため,附属書に参考として記載する。

JA.1

  十点平均粗さ(

ten point height of roughness profile

Rz

JIS

カットオフ値

λc

及び

λs

の位相補償帯域通過フィルタを適用して得た基準長さの粗さ曲線において,最高

の山頂から高い順に

5

番目までの山高さの平均と最深の谷底から深い順に

5

番目までの谷深さの平均との

和。

注記

この規格による最大高さ粗さ

Rz

が,過去の技術資料などで用いられてきた十点平均粗さ

Rz

紛らわしい場合には,注記などで違いを記述することが望ましい。

JA.2

  旧規格による十点平均粗さの定義 

旧規格 JIS B 0601

:1982

JIS B 0601

:1994

及び JIS B 0660

:1998

による十点平均粗さも,我が国において

は広く普及し,過去の技術資料に蓄積されている。旧規格による十点平均粗さの定義は,次のとおりであ

る。

注記

JIS B 0601

:1994

及び JIS B 0660

:1998

における十点平均粗さは同一である。

a)

旧規格 JIS B 0601:1994 の場合  カットオフ値

λc

の位相補償高域フィルタを適用して(カットオフ値

λs

の位相補償低域フィルタは適用しない。

)得た基準長さの輪郭曲線(旧規格 JIS B 0601

:1994

の粗さ

曲線)において,最高の山頂から高い順に

5

番目までの山高さの平均と最深の谷底から深い順に

5

目までの谷深さの平均との和。

旧規格 JIS B 0601

:1994

による十点平均粗さと上述した

Rz

JIS

との差が心配され,両者を区別する必

要がある場合には,

旧規格 JIS B 0601

:1994

による十点平均粗さは,

Rz

JIS94

のパラメータ記号を用いる。

記号の内容を注記する場合には,

表 JA.1 のような記述を参考とするとよい。

注記

旧規格 JIS B 0601

:1994

及び JIS B 0660

:1998

に定義された粗さ曲線は,現在は存在しない。

b) 

旧規格 JIS B 0601:1982 の場合  この規格における十点平均粗さは,アナログ式表面粗さ測定器によっ

て求めていたものであり,基準長さの断面曲線(フィルタなどの処理を一切しない測定したままのデ

ータ)において,最高の山頂から高い順に

5

番目までの山高さの平均と最深の谷底から深い順に

5

目までの谷深さの平均との和として定義。旧規格 JIS B 0601

:1982

による十点平均粗さと上述した

Rz

JIS

とでは,パラメータの値に差が生じることがあるので,この両者を区別する必要がある場合には,旧

規格 JIS B 0601

:1982

による十点平均粗さは,

Rz

JIS82

のパラメータ記号を用いる。記号の内容を注記す

る場合には,

表 JA.1 のような記述を参考にするとよい。

注記

旧規格 JIS B 0601

:1982

に定義された断面曲線は,現在存在しないが,測定断面曲線(JIS B 

0651

:1996

参照)が同じ内容の曲線である。ただし,測定断面曲線は,ディジタルデータであ

る点が異なる。厳密に違いを表現しなければならない場合には,アナログデータによってい

るか,ディジタルデータによっているかの注記をすることが望ましい。


24

B 0601

:2013 (ISO 4287:1997,Amd.1:2009)

表 JA.1−注記する場合の旧規格によるパラメータの記号 

記号

用いた輪郭曲線(注記の例)

Rz

JIS82

 

測定したままの輪郭曲線による。

Rz

JIS94

 

位相補償高域フィルタ適用の輪郭曲線による。


25

B 0601

:2013 (ISO 4287:1997,Amd.1:2009)

附属書 JB

(参考)

2RC

フィルタを適用した場合の中心線平均粗さ

2RC

フィルタを適用して求める中心線平均粗さ

Ra

75

の用語,

定義及び表示は,

附属書に参考として残す。

JB.1

  用語及び定義 

この附属書で用いる主な用語は,次による。

JB.1.1 

カットオフ値,

λ

c

75

cut-off wavelength

高域(ハイパス)

2RC

フィルタの振幅伝達率が

75 %

になる波長。

注記

添字の

75

は,

2RC

フィルタのカットオフ値での減衰率

75 %

を表し,ディジタルフィルタと異

なっていることを示している。

JB.1.2 

平均線 

測定曲線に減衰率

12 dB/oct

でカットオフ値

λc

75

の高域

(ハイパス)

フィルタを適用して得られる曲線に,

最小二乗法によって当てはめた対象面の幾何学形状である直線又は曲線。

JB.1.3 

粗さ曲線(75 % 

測定曲線に減衰率

12 dB/oct

でカットオフ値

λc

75

の高域

(ハイパス)

フィルタを適用して得られる曲線で,

平均線からの偏差によって表したもの。

JB.2

  中心線平均粗さの表示 

JB.2.1

  中心線平均粗さ Ra

75

粗さ曲線(

75 %

)を用いて得られる次の算術平均高さで,

μm

によって表したもの。

ln

x

x

Z

ln

Ra

75

0

d

)

(

1

ここに,

Z (x)

粗さ曲線(

75 %

l

n

評価長さ

JB.2.2

  カットオフ値

λ

c

75

λc

75

は,次の

6

種類とする。

 0.08

0.25

0.8

2.5

8

25

単位

mm

JB.2.3

  カットオフ値

λ

c

75

の標準値

λc

75

の標準値は,

表 JB.1 による。


26

B 0601

:2013 (ISO 4287:1997,Amd.1:2009)

表 JB.1−カットオフ値

λ

c

75

の標準値 

Ra

75

範囲

μm

カットオフ値

λc

75

mm

を超え

以下

− 12.5

0.8

12.5 100

2.5

JB.2.4

  評価長さ 

評価長さ

l

n

は,

λc

75

3

倍以上とする。

JB.2.5

  中心平均粗さ Ra

75

の表示

Ra

75

の表示は,次による。

  中心線平均粗さ(

75 %

μm

,カットオフ値(

75 %

mm

,評価長さ

mm

又は,

μm Ra

75

λc

75

mm

l

n

mm

注記 1

表 JB.1 を満たしている場合には,

λc

75

の表示は省略してもよい。

注記 2

評価長さが

λc

75

3

倍以上の場合には,評価長さの表示は省略してもよい。

JB.2.6

  Ra

75

の標準数列

Ra

75

によって表面粗さを表示する場合には,一般に

表 JB.2 の標準数列を用いる。

表 JB.2Ra

75

の標準数列 

単位

μm

0.013 0.4  12.5

0.025 0.8  25

0.05 1.6  50

0.1 3.2 100

0.2 6.3

JB.2.7

  Ra

75

の区間表示

Ra

75

を区間で表示する必要がある場合には,区間の上限(表示値の大きい方)及び下限(表示値の小さ

い方)の数値を

表 JB.2 から選んで併記する。

例 1

上限及び下限の

λc

75

の標準値が等しいとき

表示例(

6.3

1.6

μmRa

75

この場合,

λc

75

0.8 mm

を用いる。

例 2

上限及び下限の

λc

75

の標準値が異なるとき

表示例(

25

6.3

μmRa

75

この場合,

λc

75

2.5 mm

として測定した

Ra

75

25

μm

以下であり,

λc

75

0.8 mm

として測

定した

Ra

75

6.3

μm

以上であることを意味する。

注記 1

上限及び下限に対応する

λc

75

を同一にする必要がある場合,又は

表 JB.1 の標準値以外の

λc

75

を用いる場合には,

λc

75

を併記する。

表示例(

25

6.3

μmRa

75

λc

75

2.5 mm

注記 2

ここでいう上限及び下限の

Ra

75

とは,指定された表面からランダムに抜き取った数箇所の平

均値であって,個々の

Ra

75

の最大値ではない。