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B 0090-7

:2012

(1)

目  次

ページ

序文  

1

1

  適用範囲  

1

2

  引用規格  

1

3

  用語及び定義  

2

4

  図面内の表示  

2

4.1

  一般  

2

4.2

  光学素子及び光学的組立品のための影響面積法  

3

4.3

  表示の位置  

5

附属書 JA(規定)段階数及び細分割したときの倍数因子の選択値  

6

附属書 JB(参考)JIS と対応国際規格との対比表  

7


B 0090-7

:2012

(2)

まえがき

この規格は,工業標準化法第 14 条によって準用する第 12 条第 1 項の規定に基づき,日本光学工業協会

(JOIA)及び一般財団法人日本規格協会(JSA)から,工業標準原案を具して日本工業規格を改正すべき

との申出があり,日本工業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が改正した日本工業規格である。

これによって,JIS B 0090-7:2001 は改正され,この規格に置き換えられた。

この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。

この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意

を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は,このような特許権,出願公開後の特許出願及び実

用新案権に関わる確認について,責任はもたない。

JIS B 0090

の規格群には,次に示す部編成がある。

JIS

B

0090-1

  第 1 部:通則

JIS

B

0090-2

  第 2 部:材料欠陥−応力複屈折

JIS

B

0090-3

  第 3 部:材料欠陥−泡及び異物

JIS

B

0090-4

  第 4 部:材料欠陥−不均一性及び脈理

JIS

B

0090-5

  第 5 部:表面形状公差

JIS

B

0090-6

  第 6 部:偏心公差

JIS

B

0090-7

  第 7 部:表面欠陥

JIS

B

0090-8

  第 8 部:面の肌

JIS

B

0090-9

  第 9 部:表面処理及びコーティング

JIS

B

0090-10

  第 10 部:光学素子及び接合部品のデータ表示表

JIS

B

0090-11

  第 11 部:公差表示のないデータ

JIS

B

0090-12

  第 12 部:非球面

JIS

B

0090-14

  第 14 部:波面形状公差 

JIS

B

0090-17

  第 17 部:レーザ放射による損傷しきい値


日本工業規格

JIS

 B

0090-7

:2012

光学素子及び光学システム用の製図手法−

第 7 部:表面欠陥

Preparation of drawings for optical elements and systems-

Part 7: Surface imperfections

序文 

この規格は,2008 年に第 2 版として発行された ISO 10110-7 を基とし,技術的内容を変更して作成した

日本工業規格である。

なお,この規格で点線の下線を施してある箇所は,対応国際規格を変更している事項である。変更の一

覧表にその説明を付けて,

附属書 JB に示す。

適用範囲 

JIS B 0090

の規格群は,製造及び検査に用いる製図における光学素子及び光学システムに対する設計上

及び機能上の要求事項の表示方法について規定している。

この規格は,個々の光学素子及び光学的組立品の有効範囲内にある表面欠陥を指示する表示方法につい

て規定する。

表面欠陥の許容水準は,外観的(美的)な影響だけでなく,画像及び照明の品質,光学素子の耐久性な

どの機能的な影響を考慮に入れて,決定することに注意しなければならない。

この規格は,コーティングの有無にかかわらず,仕上げされた光学素子の透過面及び反射面のいずれに

も適用する。また,光学的組立品にも適用する。許容できる表面欠陥は,部品又は光学的組立品のどの領

域に存在するかに応じて規定する。

注記  この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を,次に示す。

ISO 10110-7:2008

,Optics and photonics−Preparation of drawings for optical elements and systems−

Part 7: Surface imperfection tolerances(MOD)

なお,対応の程度を表す記号“MOD”は,ISO/IEC Guide 21-1 に基づき,

“修正している”

ことを示す。

引用規格 

次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成する。これらの

引用規格は,その最新版(追補を含む。

)を適用する。

JIS B 0090-1

  光学素子及びシステム用の製図手法−第 1 部:通則

注記  対応国際規格:ISO 10110-1,Optics and photonics−Preparation of drawings for optical elements

and systems−Part 1: General(IDT)

ISO 14997

,Optics and photonics−Test methods for surface imperfections of optical elements


2

B 0090-7

:2012

用語及び定義 

この規格に用いる主な用語及び定義は,次による。

表面欠陥の分類については,

図 を参照。

3.1 

局所的な表面欠陥(localized surface imperfections)

製造過程,製造後又は使用時に不適切な取扱いをしたことによって,光学表面,光学素子及び光学的組

立品の有効範囲内に発生した局所的な表面欠陥。

注記 1  局所的な欠陥の例には,スクラッチ(scratches,鋭いきず),ぶつ(pits),きらきず(sleeks,

見る方向によってきらきら光るきず)

,擦りきず(scuffs,複数の,方向がそろった浅いきず)

がある。また,その例にはコーティング欠陥も含み,これらの用語の定義については ISO 

9211-1

を参照。表面欠陥は,表面上及び表層に存在する。ISO 9802 の用語を参照。光学的組

立品の接着層に含まれる泡,異物なども含む。

注記 2  光学的組立品では,その中のいずれの面にも表面欠陥が発生する可能性がある。

図 1−表面欠陥の分類 

3.2 

長いスクラッチ(long scratches)

長さが 2 mm 以上ある細い表面欠陥。

注記  長いスクラッチはその長さのために,同じ幅でより短いスクラッチよりも,光学性能に影響す

る傾向にある。

3.3 

縁の欠け(edge chips)

光学素子の周縁部の局所的な欠陥。

注記  縁の欠けは,それが光学的な有効範囲外にある場合でも,光学素子の密封性を妨げ,散乱光の

原因となり,又はその箇所からひび割れが広がり,光学系の性能に有害な影響を与える可能性

がある。

図面内の表示 

4.1 

一般 

表面欠陥は,コード番号及び段階数で表示する。表面欠陥のコード番号は,5/である。また,光学的組

立品における表面欠陥のコード番号は,15/である。

ISO 14997

の方法で観察できる表面欠陥

長いスクラッチ

局所的な表面欠陥

スクラッチ

縁の欠け

ぶつ

コーティング欠陥

泡・異物

きらきず

擦りきず


3

B 0090-7

:2012

4.2 

光学素子及び光学的組立品のための影響面積法 

4.2.1 

表面欠陥 

4.2.1.1 

一般 

表面の有効範囲内で許容できる局所的な表面欠陥の数及び寸法の図面表示は,

5/N×A

とする。また,光学的組立品における局所的な表面欠陥に対しての図面表示は,

15/N×A

とする。N×の形の表示において,は,最大許容寸法の局所的な表面欠陥が許される数であり,は,

最大許容欠陥の表面積の平方根(単位は mm)と等しい段階数である。の選択値は,

表 JA.1 の第 1 列に

示す。

4.2.1.2 

コーティング欠陥 

必要な場合には,コーティング欠陥の許容水準は,

局所的な表面欠陥とは分けて規定することができる。

表面の有効範囲内で許容できるコーティング欠陥の表示は,

CN'×A'

とする。

ここに,

C: コーティング欠陥

N'

最大許容欠陥の許容数

A'

4.2.1.1

で規定した段階数

である。

コーティング欠陥を含む表面欠陥の表示は,局所的な表面欠陥の表示に続けてセミコロンを挿入して,

5  又は 15/N×A;CN'×A'

とする。

コーティング欠陥を分けない表示の場合は,許容できる表面欠陥の表示は,

5  又は 15/N×A

の中に含む。

4.2.1.3 

長いスクラッチ 

表面の有効範囲内にある許容可能な長いスクラッチ(2 mm 以上)の表示は,

LN''×A''

とする。

ここに,

L: 長いスクラッチ

N''

許容される長いスクラッチの数

A''

段階数であり,スクラッチの最大許容幅(単位は mm)

である。

コーティング欠陥及び長いスクラッチを含む表面欠陥の表示は,局所的な表面欠陥(規定している場合

にはコーティング欠陥)の表示に続けてセミコロンを挿入して,

5  又は 15/N×A;CN'×A';LN''×A''

とする。

長いスクラッチ及びコーティング欠陥を分けない表示の場合は,許容される表面欠陥の表示は,

5  又は 15/N×A

の中に含む。


4

B 0090-7

:2012

4.2.1.4 

縁の欠け 

許容される縁の欠けの表示は,

EA'''

とする。

ここに,

E: 縁の欠け

A'''

段階数であり,欠けの広がりを,表面の物理的な端
から内側に向かって,表面に平行に測った最大許容
値(単位は mm)

である。

コーティング欠陥,長いスクラッチ及び縁の欠けを含む表面欠陥の表示は,局所的な表面欠陥(規定し

ている場合にはコーティング欠陥及び長いスクラッチ)の表示に続けてセミコロンを挿入して,

5  又は 15/N×A;CN'×A';LN"×A'';EA'''

とする。

縁からの広がりが A'''を超えない限り,いかなる数の縁の欠けも許容できる。

注記 1  光学的組立品の接合面などにも適用される。

注記 2  レンズのように表面が曲面の場合は,表面の物理的な端から内側に向かって,光軸に垂直に

測る。

注記 3  保護面取りがある場合は,外周を物理的な端とする。機能的な面取りがある場合は,面取り

と表面との境界を物理的な端とする。

明確な縁の欠けの指示が与えられていない場合には,有効範囲に達していない縁の欠けは,許容する。

4.2.1.5 

表面欠陥の表示 

コーティング欠陥,長いスクラッチ及び縁の欠けを含んだ表面欠陥の完全な表示は,

5  又は 15/N×A;CN'×A';LN"×A'';EA'''

である。

ここに, 5/:

表面欠陥

15/: 光学的組立品の表面欠陥

N

×A

局所的な表面欠陥

CN'×A': コーティング欠陥

LN"×A": 長いスクラッチ

EA''': 縁の欠け

である。

複数種類の表面欠陥がある場合,個々に独立に許容する。

4.2.2 

小さな段階数の表面欠陥の扱い 

4.2.1.1

で規定した段階数より小さな段階数の表面欠陥を含む場合には,その面積の和が表面欠陥の総面

積の最大許容値を超えなければ,

指示された数より多い表面欠陥も許容する

(コーティング欠陥を含む。

表面欠陥の総面積の最大許容値は,次のようになる。

局所的な表面欠陥の場合:N×A

2

コーティング欠陥の場合:N'×A' 

2

表面欠陥の許容数を決めるとき,段階数 0.16以下のものは数えない。長いスクラッチは,幅の総和が

N''

×A''の値を超えなければ,数が多くとも許容する。この総和を計算するとき 0.3A''より幅の狭いスクラ

ッチは数えない。


5

B 0090-7

:2012

4.2.3 

表面欠陥の集中 

表面欠陥の集中を許容できない場合は,集中の定義とともに,明記しなければならない。

注記  対応国際規格の集中の定義は,次による。許容できる欠陥の数の 20 %以上が検査領域と相似形

状の任意の 5 %の部分に見いだされるとき,集中が起こるとする。ただし,表面欠陥の総数が

10 個未満の場合には,検査領域と同じ表面内の,検査領域と相似形状である 5 %の小領域内に,

2 個以上の表面欠陥があるときに,集中とする。

4.2.4 

検査方法 

表面欠陥の検査方法を図面に表示する場合には,ISO 14997 に規定する検査方法を表示する。

4.3 

表示の位置 

表示は,それが適用される面の近くに記入する。必要な場合,表示は引き出し線で光学素子と結んでも

よい。できれば,他の表面公差(表面形状公差及び偏心公差)の表示と組み合わせる。このような表示例

は,JIS B 0090-1 

附属書 A(光学素子の製図の例)を参照。

2 個又はそれ以上の光学素子を接合(又は光学密着)する場合は,個々の光学素子に与えられた表面欠

陥許容値は,特に別記しない限り,光学的な部分組立品,すなわち接合(又は光学密着)後の面にも適用

する[JIS B 0090-1 の 4.8.3(光学的部分組立部品)を参照]


6

B 0090-7

:2012

附属書 JA

(規定)

段階数及び細分割したときの倍数因子の選択値

段階数 の値の選択範囲は,

表 JA.1 の第 1 列に示す。第 2 列から第 4 列は,段階数とその倍数因子と

の間の関係を示している。

例えば,表は,段階数 0.25 の 6 個の表面欠陥が,段階数 0.63 の 1 個の表面欠陥と同じ面積をもつことを

示している。

表 JA.1−表面欠陥の大きさの呼び方及び細分割したときの倍数因子の選択値

倍数因子

1(選択値) 2.5

6.3

16


A

mm

0.006

0.010 0.006  −

0.016 0.010 0.006  − 
0.025 0.016 0.010 0.006 
0.040 0.025 0.016 0.010 
0.063 0.040 0.025 0.016 
0.10  0.063 0.040 0.025 
0.16 0.10 0.063 0.040 
0.25 0.16 0.10 0.063 
0.40 0.25 0.16 0.10 
0.63 0.40 0.25 0.16 
1.0  0.63 0.40 0.25 
1.6 1.0 0.63 0.40 
2.5 1.6 1.0 0.63 
4.0 2.5 1.6 1.0

例  表示が 5/2×0.25(すなわち,段階数 0.25 の 2 個の表面欠陥)である

とき,段階数が 0.16 の表面欠陥であれば 2×2.5=5 個,又は段階数
が 0.1 の表面欠陥であれば 2×6.3>12 個,又は段階数が 0.063 の表
面欠陥であれば 2×16≈32 個の表面欠陥を許容できる。また,0.16

×0.25=0.04(4.2.2 参照)より大きな段階数をもった全ての表面欠
陥の全射影面積が,2×0.25

2

 mm

2

=0.125 mm

2

を超えない限り,上記

に相当する任意の組合せを許容できる。

参考文献  ISO 9211-1,Optics and photonics−Optical coatings−Part 1: Definitions

ISO 9802

,Raw optical glass−Vocabulary


7

B 0090-7

:2012

附属書 JB

(参考)

JIS

と対応国際規格との対比表

JIS B 0090-7:2012

  光学素子及び光学システム用の製図手法−第 7 部:表面欠陥

ISO 10110-7:2008

  Optics and photonics − Preparation of drawings for optical

elements and systems−Part 7: Surface imperfection tolerances

(I)JIS の規定

(II)

国際規格
番号

(III)国際規格の規定

(IV)JIS と国際規格との技術的差異の箇条

ごとの評価及びその内容

(V)JIS と国際規格との技術的差

異の理由及び今後の対策

箇条番号
及び題名

内容

箇条番号

内容

箇条ごと
の評価

技術的差異の内容

4.1  一般

表面欠陥許容値の表

 4.1

表面欠陥許容値の表示及
び ISO 14997 の検査水準

とその記録方法

削除

ISO 14997

の検査水準とその記

録に関する規定を削除した。

ISO 14997

の検査方法は技術的に

曖昧な部分が多いこと,及び国内

では使用されていないため。ISO 

14997

及び ISO 10110-7 の改正が

計画されており,我が国の意見を

反映していく。

4.2.1.1 
一般

表面欠陥の数及び寸
法の図面表示

 4.1.1.1

表面欠陥の数及び寸法の
図面表示

追加

段階数 の数列を附属書 JA と
して追加した。

国際規格においては段階数 の数
列は,検査方法の規定 ISO 14997

に移す。ISO 14997 に対応する JIS
の 制 定 計 画 が な い た め , JIS B 

0090-7

に残す。

4.2.1.4 
縁の欠け

縁の欠けの定義

4.2.1.4

縁の欠けの定義

変更

縁の欠けの定義を明確にした。

国際規格では規定がなく,国内で
共通に運用されている内容を記

載した。ISO 10110-7 の改正のと
きに,我が国の意見を反映してい
く。

4.2.3  表
面欠陥の
集中

表面欠陥の集中の定
義と表示

 4.2.3

表面欠陥の集中の定義

変更

表面欠陥の集中は,図面作成者
自 ら が 定 義 す る よ う に変 更し
た。

国際規格の改正必要項目として,
表面欠陥の集中の定義,特に,そ
の数が 10 個未満の場合が挙げら

れている。その改正の際に,我が
国の意見を反映する。

 

7

B 009

0-

7


2

012


8

B 0090-7

:2012

(I)JIS の規定

(II) 
国際規格
番号

(III)国際規格の規定

(IV)JIS と国際規格との技術的差異の箇条
ごとの評価及びその内容

(V)JIS と国際規格との技術的差
異の理由及び今後の対策

箇 条 番 号
及び題名

内容

箇条番号

内容

箇条ごと
の評価

技術的差異の内容

4.2.4 
検査方法

表面欠陥の検査方法

の表示

 4.2.4

表面欠陥の検査方法の表

削除

具体的な検査方法の図面表示の

規定を削除した。

ISO 14997

の検査方法は技術的に

曖昧な部分が多いこと,及び国内
では使用されていないため。ISO 

14997

及び ISO 10110-7 の改正が

計画されており,我が国の意見を
反映していく。

附属書 JA
(規定) 
段 階 数 及

び 細 分 割
し た と き
の 倍 数 因

子 の 選 択

追加

倍 数 因 子 の 選 択 方 法 を規 定し
た。

技術的差異はない。

JIS

と国際規格との対応の程度の全体評価:ISO 10110-7:2008,MOD

注記 1  箇条ごとの評価欄の用語の意味は,次による。

    −  削除……………… 国際規格の規定項目又は規定内容を削除している。

    −  追加……………… 国際規格にない規定項目又は規定内容を追加している。 
    −  変更……………… 国際規格の規定内容を変更している。

注記 2  JIS と国際規格との対応の程度の全体評価欄の記号の意味は,次による。

    −  MOD……………  国際規格を修正している。

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